[发明专利]图像坏点校正方法及设备、存储介质

说明书

一种图像坏点校正方法，包括：获取第一曝光时长，所述第一曝光时长为第一图像的曝光时长(S100)；根据所述第一曝光时长从预设的至少两个坏点坐标表中确定目标坏点坐标表，其中，所述预设的至少两个坏点坐标表包括在不同的曝光参数下标定出的坏点坐标表(S200)；根据所述目标坏点坐标表对所述第一图像进行坏点校正(S300)。所述方法可以防止校正明显过度或校正明显不足的问题。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其是涉及一种图像坏点校正方法及设备、存储介质。

背景技术

成像装置(例如图像传感器)由于制作工艺的缺陷、或光信号转换出现错误等的原因，采集的图像上会存在坏点。图像坏点包括亮点和暗点。一般来说，像素点的亮度值是正比于入射光的，而亮点的亮度值明显大于入射光乘以相应比例，并且随着曝光时间的增加，该点的亮度会显著增加；而对于暗点来说，无论在什么入射光下，该点的像素值接近于0。坏点在图像上的位置是固定的，因此只需要标定出所有坏点的位置坐标，后续利用这些位置坐标即可对坏点进行校正。

相关图像坏点校正方式中，针对同一成像装置而言，无论采集图像时的曝光参数如何变化，对图像校正时，都只会采用同一曝光参数下标定出的一张坏点坐标表。

但是，不同曝光参数下图像上出现的坏点数量是不同的。上述方式中，由于对不同曝光参数的图像校正时，都会采用同一曝光参数下标定出的一张坏点坐标表，导致可能存在校正明显过度或校正明显不足的问题。

发明内容

本发明提供一种图像坏点校正方法及设备、存储介质，防止校正明显过度或校正明显不足的问题。

本发明实施例第一方面，提供一种图像坏点校正方法，包括：

获取第一曝光时长，所述第一曝光时长为第一图像的曝光时长；

根据所述第一曝光时长从预设的至少两个坏点坐标表中确定目标坏点坐标表，其中，所述预设的至少两个坏点坐标表包括在不同的曝光参数下标定出的坏点坐标表；

根据所述目标坏点坐标表对所述第一图像进行坏点校正。

本发明实施例第二方面，提供一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器；

所述存储器，用于存储程序代码；

所述处理器，用于调用所述程序代码，当程序代码被执行时，用于执行以下操作：

获取第一曝光时长，所述第一曝光时长为第一图像的曝光时长；

根据所述第一曝光时长从预设的至少两个坏点坐标表中确定目标坏点坐标表，其中，所述预设的至少两个坏点坐标表包括在不同的曝光参数下标定出的坏点坐标表；

根据所述目标坏点坐标表对所述第一图像进行坏点校正。

本发明实施例第三方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机指令，所述计算机指令被执行时，实现本发明实施例第一方面所述的图像坏点校正方法。

基于上述技术方案，本发明实施例中，需要对第一图像进行坏点校正时，可获取该第一图像的曝光时长即第一曝光时长，根据该第一曝光时长为第一图像确定出目标坏点坐标表，由于该目标坏点坐标表是根据图像的曝光时长从预设的至少两个不同曝光参数下标定出的坏点坐标表中确定出的，因而在曝光时长不同的情况下，可根据曝光时长确定出合适对第一图像进行坏点校正的目标坏点坐标表，图像坏点校正中考虑了曝光时长的影响，可实现不同曝光时长下更合适的坏点校正，防止校正明显过度或校正明显不足的问题。

附图说明

为了更加清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据本发明实施例的这些附图获得其它的附图。