[发明专利]应力测定方法有效
| 申请号： | 201880035154.0 | 申请日： | 2018-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN110678742B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 高松弘行;福井利英;松田真理子;兜森达彦 | 申请（专利权）人： | 株式会社神户制钢所 |
| 主分类号： | G01N23/20016 | 分类号： | G01N23/20016;G01L1/00;G01L1/25 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘影娜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的应力测定方法是对由金属构成的、包括表面以及凹部的被检查体的凹部的应力进行测定的方法，所述应力测定方法包括：检测工序，使X射线向凹部入射，并且利用二维检测器对通过所述X射线在凹部衍射而形成的衍射X射线的衍射环进行检测；以及计算工序，基于检测工序的检测结果来计算凹部的应力，在检测工序中，对被检查体的凹部内的多个部位分别入射X射线，并且利用二维检测器对通过各X射线在凹部衍射而形成的衍射环进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 应力 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种应力测定方法，其是对由金属构成的、包括表面以及具有从该表面凹陷且呈槽状延伸的形状的凹部的被检查体的所述凹部的应力进行测定的方法，其中，/n所述应力测定方法包括：/n检测工序，使X射线向所述凹部入射，并且利用二维检测器对通过所述X射线在所述凹部衍射而形成的衍射X射线的衍射环进行检测；以及/n计算工序，基于所述检测工序的检测结果来计算所述凹部的应力，/n在所述检测工序中，对所述被检查体的凹部内的多个部位分别入射X射线，并且利用所述二维检测器对通过各X射线在所述凹部衍射而形成的衍射环进行检测。/n
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