[发明专利]通过监测UV出耦合的变化对UV应用的安全性改进有效

专利信息
申请号: 201880034043.8 申请日: 2018-05-17
公开(公告)号: CN110709107B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: B·A·索泰斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61L2/10 分类号: A61L2/10;B63B59/04
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 孟杰雄
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种系统(200),包括:(i)被配置为提供辐射(221)的光源(220),其中,辐射(221)至少包括UV辐射;(ii)包括辐射出射窗口(230)的波导元件(1210),其中,波导元件(1210)被配置为接收辐射(221)的至少部分并经由辐射出射窗口(230)将辐射(221)的至少部分辐照到波导元件(1210)的外部,并且被配置为在辐射出射窗口(230)处内反射辐射(221)的部分;(iii)光学传感器(310),其被配置为感测被内反射辐射(221)的内反射强度(I);以及(iv)控制系统(300),其功能性地耦合至所述光学传感器,并且被配置为根据达到内反射强度(I)随时间的降低的预定第一阈值来降低辐射(221)的强度。
搜索关键词: 通过 监测 uv 耦合 变化 应用 安全性 改进
【主权项】:
1.一种系统(200),包括:/n波导元件(1210),其包括辐射出射窗口(230),其中,所述波导元件(1210)被配置为(a)接收辐射(221),其中,所述辐射(221)至少包括UV辐射,并且所述波导元件被配置为(b)经由所述辐射出射窗口(230)将所述辐射(221)的至少部分辐照到所述波导元件(1210)的外部,并且所述波导元件被配置为(c)在所述辐射出射窗口(230)处将所述辐射(221)的部分进行内反射;/n光学传感器(310),其被配置为感测被内反射辐射(221)的内反射强度(I);/n控制系统(300),其功能性地耦合到所述光学传感器,并且被配置为根据达到所述内反射强度(I)随时间的降低的预定第一阈值来降低所述辐射(221)的强度。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦有限公司,未经皇家飞利浦有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880034043.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top