[发明专利]光学传感器和用于检测电磁辐射的方法在审
| 申请号： | 201880032651.5 | 申请日： | 2018-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN110678723A | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 甘特·西斯 | 申请（专利权）人： | AMS有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/46 | 分类号： | G01J3/46;G01J3/51;G01N21/25 |
| 代理公司： | 11413 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 奥地利普*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
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| 摘要： | 一种光学传感器(10)包括至少四个检测信道(11)，其中每个检测信道(11)包括一个光电探测器(12)和具有相应透射光谱(T)的滤光器。该至少四个滤光器(13)的透射光谱(T)彼此不同，并且透射光谱(T)被设置成使得三个CIE颜色匹配函数(x、y、z)中的每一个是滤光器(13)中的至少两个滤光器的透射光谱(T)的线性组合。此外，提供了一种用于检测电磁辐射的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 透射光谱 滤光器 信道 检测 颜色匹配函数 电磁辐射 光电探测器 光学传感器 线性组合 | ||
【主权项】：
1.一种光学传感器(10)，其包括：/n-至少四个检测信道(11)，其中每个检测信道(11)包括光电探测器(12)和具有相应透射光谱(T)的滤光器(13)，其中/n-所述至少四个滤光器(13)的透射光谱(T)彼此不同，并且/n-所述透射光谱(T)被设置成使得三个CIE颜色匹配函数
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