[发明专利]使用特征量的三维测量方法及其装置有效
| 申请号： | 201880030908.3 | 申请日： | 2018-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110612428B | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 藤垣元治;赤塚优一;高田大嗣 | 申请（专利权）人： | 藤垣元治 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;文志 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 预先求出根据从多个投影部投影的图案或上述图案的变化中的至少一方得到的多个特征量与空间坐标的关系，使用上述特征量与上述空间坐标的上述关系，根据从上述多个投影部向测量对象物表面投影的图案或上述图案的变化得到的特征量来求出上述对象物表面的空间坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 特征 三维 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量方法，其用于求出测量对象物表面的空间坐标，其特在于，包含以下步骤：/n包含三个以上的特征量的多个组，从多个位置向测量对象物表面投影图案或上述图案的变化，上述多个位置是以上述三个以上的特征量的各个组在测量区域内或上述测量区域内的部分区域内与各空间坐标成为一对一的对应关系的方式配置的多个位置；/n对已投影到上述测量对象物表面的上述图案或上述图案的变化进行拍摄；以及/n使用预先使用基准物体求出的上述三个以上的特征量的各组与上述空间坐标的关系，根据基于上述拍摄到的图像而得到的三个以上的特征量的组，求出上述空间坐标。/n
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