[发明专利]X射线断层成像检查系统和方法在审
| 申请号： | 201880025499.8 | 申请日： | 2018-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN110662488A | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 爱德华·詹姆斯·莫顿 | 申请（专利权）人： | 拉皮斯坎系统股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 11240 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 石磊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种用于扫描物品的X射线检查系统。该系统包括：固定X射线源，其围绕矩形扫描体积延伸，并且限定多个源点，X射线可从该多个源点被引导通过扫描体积；X射线检测器阵列，其也围绕矩形扫描体积延伸，并且布置为检测来自源点的已经穿过扫描体积的X射线；传送器，其布置为传送物品通过扫描体积；以及至少一个处理器，其用于处理检测到的X射线以产生物品的扫描图像。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 源点 固定X射线源 处理检测 扫描图像 扫描物品 传送器 延伸 处理器 传送 穿过 检测 | ||
【主权项】：
1.一种扫描物体的X射线检查系统，包括：/n壳体，包围扫描体积；/n传送器，运送所述物体通过所述扫描体积以进行检查；/n多焦点的X射线源，具有围绕所述扫描体积以非圆形几何形状布置的多个X射线源点，其中，由所述多个X射线源点中的每个产生的X射线的射束角在所述多个X射线源点上是不均一的；/n检测器阵列，位于所述X射线源和所述扫描体积之间，其中，所述检测器阵列具有围绕所述扫描体积以非圆形几何形状布置的多个多能量检测器模块，以检测在扫描期间传输通过所述物体的X射线；以及/n处理器，用于分析被检查的所述物体的正弦图数据和重建图像数据从而识别威胁。/n
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