[发明专利]电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统在审
| 申请号： | 201880022695.X | 申请日： | 2018-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN110462441A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 冈田浩希;内田绘梨;皆川博幸;高山喜央;小野光夫;长谷部笃史;河合克敏;金山幸年 | 申请（专利权）人： | 京瓷株式会社 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89 |
| 代理公司： | 72003 隆天知识产权代理有限公司 | 代理人： | 向勇;宋晓宝<国际申请>=PCT/JP2 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 电磁波检测装置(10)具有：照射部(11)、第一检测部(17)、行进部(20)、存储部(13)、以及控制部(14)。照射部(11)照射电磁波。第一检测部(17)检测照射于对象(ob)的电磁波的反射波。行进部(20)具有多个行进元件(px)。多个行进元件(px)根据照射于对象(ob)的电磁波的照射位置来切换该电磁波的反射波可否向第一检测部(17)行进。存储部(13)存储关联信息。控制部(14)基于当第一检测部(17)检测反射波时使反射波向第一检测部(17)行进的行进元件(px)的位置，来更新关联信息。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电磁波 反射波 行进 照射 存储部 行进部 照射部 电磁波检测装置 存储关联信息 关联信息 照射位置 更新 | ||
【主权项】：
1.一种电磁波检测装置，/n包括：/n发射电磁波的照射部；/n第一检测部，检测照射于对象的所述电磁波的反射波；/n行进部，具有根据照射于所述对象的所述电磁波的照射位置，来切换该电磁波的反射波可否向所述第一检测部行进的多个行进元件；/n存储部，存储将来自所述照射部的所述电磁波的发射方向与对在从所述照射部发射的电磁波经由所述对象至少到所述行进部为止的路径上的两点分别进行限定的两个要素中的任意两个相关联的关联信息；以及/n控制部，基于当所述第一检测部检测所述反射波时使所述反射波向所述第一检测部行进的行进元件的位置，来更新所述关联信息。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京瓷株式会社，未经京瓷株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880022695.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于对立体角进行扫描的方法和设备
- 下一篇：实现重合的光子计数检测器
