[发明专利]电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统在审

专利信息
申请号: 201880022695.X 申请日: 2018-03-16
公开(公告)号: CN110462441A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 冈田浩希;内田绘梨;皆川博幸;高山喜央;小野光夫;长谷部笃史;河合克敏;金山幸年 申请(专利权)人: 京瓷株式会社
主分类号: G01S17/89 分类号: G01S17/89
代理公司: 72003 隆天知识产权代理有限公司 代理人: 向勇;宋晓宝<国际申请>=PCT/JP2
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检测 电磁波 反射波 行进 照射 存储部 行进部 照射部 电磁波检测装置 存储关联信息 关联信息 照射位置 更新
【权利要求书】:

1.一种电磁波检测装置,

包括:

发射电磁波的照射部;

第一检测部,检测照射于对象的所述电磁波的反射波;

行进部,具有根据照射于所述对象的所述电磁波的照射位置,来切换该电磁波的反射波可否向所述第一检测部行进的多个行进元件;

存储部,存储将来自所述照射部的所述电磁波的发射方向与对在从所述照射部发射的电磁波经由所述对象至少到所述行进部为止的路径上的两点分别进行限定的两个要素中的任意两个相关联的关联信息;以及

控制部,基于当所述第一检测部检测所述反射波时使所述反射波向所述第一检测部行进的行进元件的位置,来更新所述关联信息。

2.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,

所述关联信息包括将所述发射方向与沿该发射方向发射的电磁波的反射波入射的行进元件的位置相关联的第一关联信息,

所述控制部基于所述第一检测部检测所述反射波时使所述反射波向所述第一检测部行进的行进元件的位置和所述第一检测部检测所述反射波时的所述发射方向,更新所述第一关联信息来作为所述关联信息的更新。

3.如权利要求1或2所述的电磁波检测装置,其中,

所述关联信息包括将所述发射方向与沿该发射方向发射的电磁波的照射位置相关联的第二关联信息,

所述控制部基于所述第一检测部检测所述反射波时使所述反射波向所述第一检测部行进的行进元件的位置和所述第一检测部检测所述反射波时的所述发射方向,更新所述第二关联信息来作为所述关联信息的更新。

4.如权利要求1~3中任一项所述的电磁波检测装置,其中,

所述关联信息包括将所述照射位置与照射在该照射位置上的电磁波的反射波入射的行进元件的位置相关联的第三关联信息,

所述控制部基于所述第一检测部检测所述反射波时使所述反射波向所述第一检测部行进的行进元件的位置和所述第一检测部检测所述反射波时的所述发射方向,更新所述第三关联信息来作为所述关联信息的更新。

5.如权利要求1~4中任一项所述的电磁波检测装置,其中,

所述电磁波检测装置还包括第二检测部,该第二检测部相对于所述行进部配置在与配置有所述第一检测部的第一方向不同的第二方向上,该第二检测部具有根据照射位置检测所述反射波的多个检测元件,

所述关联信息将来自所述照射部的所述电磁波的发射方向与对在从所述照射部发射的电磁波经由所述对象到所述第二检测部为止的路径上的两点分别进行限定的两个要素中的任意两个相关联。

6.如权利要求5所述的电磁波检测装置,其中,

所述关联信息包括将所述发射方向与检测沿该发射方向发射的电磁波的反射波的所述检测元件的位置相关联的第四关联信息,

所述控制部基于所述第一检测部检测所述反射波时使所述反射波向所述第一检测部行进的行进元件的位置和所述第一检测部检测所述反射波时的所述发射方向,更新所述第四关联信息来作为所述关联信息的更新。

7.如权利要求5或6所述的电磁波检测装置,其中,

所述关联信息包括将所述行进元件的位置与该行进元件使所述反射波行进的检测元件的位置相关联的第五关联信息,

所述控制部基于所述第一检测部检测所述反射波时使所述反射波向所述第一检测部行进的行进元件的位置和所述第一检测部检测所述反射波时的所述发射方向,更新所述第五关联信息来作为所述关联信息的更新。

8.如权利要求5~7中任一项所述的电磁波检测装置,其中,

所述关联信息包括将所述照射位置与检测照射在该照射位置上的电磁波的反射波的检测元件的位置相关联的第六关联信息,

所述控制部基于所述第一检测部检测所述反射波时使所述反射波向所述第一检测部行进的行进元件的位置和所述第一检测部检测所述反射波时的所述发射方向,更新所述第六关联信息来作为所述关联信息的更新。

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