[发明专利]用于校准电容传感器接口的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201880019593.2 申请日: 2018-03-07
公开(公告)号: CN110431383B 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 科林·斯蒂尔;雷内·朔伊纳;托马斯·克里斯坦;马克·尼德伯格 申请(专利权)人: 美商楼氏电子有限公司
主分类号: G01D5/24 分类号: G01D5/24
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王小东;黄纶伟
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于校准电容传感器接口的装置和方法。用于校准电容传感器接口(1)的装置(2)包括具有电容(cmem、cmemsp、cmemsm)的电容传感器(10)和具有可变电容(cdum、cdump、cdumm)的电荷储存电路(20)。测试电路(30)将测试信号(vtst)施加到电容传感器(10)和电荷储存电路(20)。放大器电路(40)具有耦合到电容传感器(10)的第一输入连接端(E40a)和耦合到电荷储存电路(20)的第二输入连接端(E40b)。放大器电路(40)根据施加到第一输入连接端(E40a)的第一输入信号(ΔVerr1)和施加到第二输入连接端(E40b)的第二输入信号(ΔVerr2)提供输出信号(Vout)。控制电路(60)被配置为调整电荷储存电路(20)的电容(cdum、cdump、cdumm),使得输出信号(Vout)的电平趋于零电平。
搜索关键词: 用于 校准 电容 传感器 接口 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于校准电容传感器接口的装置,包括:‑电容传感器(10),其具有电容(cmem、cmemsp、cmemsm),‑电荷储存电路(20),其具有可变电容(cdum、cdump、cdumm),‑测试电路(30),其用于将测试信号(vtst)施加到电容传感器(10)和电荷储存电路(20),‑放大器电路(40),其具有耦合到电容传感器(10)的第一输入连接端(E40a)和耦合到电荷储存电路(20)的第二输入连接端(E40b)以及输出连接端(A40),其中,放大器电路(40)被配置为根据施加到第一输入连接端(E40a)的第一输入信号(ΔVerr1)和施加到第二输入连接端(E40b)的第二输入信号(ΔVerr2)在放大器电路(40)的输出连接端(A40)处提供输出信号(Vout),‑检测电路(50),其用于检测输出信号(Vout)的电平,‑控制电路(60),其用于接收检测到的输出信号(Vout)的电平并调整电荷储存电路(20)的电容(cdum、cdump、cdumm),使得输出信号(Vout)的电平趋于零电平。
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