[实用新型]一种晶元测试探针有效
| 申请号： | 201822015288.6 | 申请日： | 2018-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN209182374U | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 梁建;罗雄科 | 申请（专利权）人： | 上海泽丰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 200233 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种晶元测试探针包括：所述测试探针的一端为弧面，另一端为多角状；晶元通过所述测试探针与印制电路板进行通讯连接；所述测试探针的弧面端与所述晶元进行接触连接；所述测试探针的多角状端与所述印制电路板进行接触连接。 | ||
| 搜索关键词： | 测试探针 印制电路板 接触连接 多角状 晶元 种晶 本实用新型 通讯连接 弧面端 弧面 | ||
【主权项】：
1.一种晶元测试探针，其特征在于，包括：所述测试探针的一端为弧面，另一端为多角状；晶元通过所述测试探针与印制电路板进行通讯连接；所述测试探针的弧面端与所述晶元进行接触连接；所述测试探针的多角状端与所述印制电路板进行接触连接。
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