[实用新型]IGBT老化测试电路有效
| 申请号： | 201821687302.0 | 申请日： | 2018-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN209070071U | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 王磊;李兵;刁利军;徐春梅;邱瑞昌;郭羽佳;王梦珠;董超跃 | 申请（专利权）人： | 北京交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王文红 |
| 地址： | 100000*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种IGBT老化测试电路，该电路包括：第一电流源、第二电流源、正反向导流单元、待测单元。该第一电流源通过正反向导流单元为所述待测单元提供老化测试电流，正反向导流单元用于调整老化测试电流流经待测单元的方向，以通过流经待测单元的老化测试电流方向模拟IGBT工作状态；第二电流源为待测单元提供结温测试电流，以测试待测单元在结温测试电流下的饱和电压，并通过饱和电压对所述IGBT进行老化测试。通过老化测试电路完成对IGBT的老化测试，对IGBT的使用寿命进行在线评估及预测，能够有效地监控IGBT的工作状态，提前对即将损坏的IGBT进行更换，保障轨道列车的安全运行。 | ||
| 搜索关键词： | 待测单元 老化测试 电流源 老化测试电路 饱和电压 测试电流 结温 本实用新型 安全运行 电流方向 轨道列车 使用寿命 在线评估 有效地 电路 测试 监控 预测 | ||
【主权项】：
1.一种绝缘栅双极型晶体管IGBT老化测试电路，其特征在于，包括：第一电流源、第二电流源、正反向导流单元、待测单元；所述待测单元包括IGBT和续流二极管FWD，所述FWD连接于所述IGBT集电极与发射极之间；所述第一电流源通过所述正反向导流单元为所述待测单元提供老化测试电流，所述正反向导流单元用于调整老化测试电流流经所述待测单元的方向，以通过流经所述待测单元的老化测试电流方向模拟所述IGBT工作状态；所述第二电流源与所述待测单元并联，为所述待测单元提供结温测试电流，以测试所述待测单元在结温测试电流下的饱和电压，并通过所述饱和电压对所述IGBT进行老化测试。
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