[实用新型]IGBT老化测试电路有效
| 申请号： | 201821687302.0 | 申请日： | 2018-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN209070071U | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 王磊;李兵;刁利军;徐春梅;邱瑞昌;郭羽佳;王梦珠;董超跃 | 申请（专利权）人： | 北京交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王文红 |
| 地址： | 100000*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 待测单元 老化测试 电流源 老化测试电路 饱和电压 测试电流 结温 本实用新型 安全运行 电流方向 轨道列车 使用寿命 在线评估 有效地 电路 测试 监控 预测 | ||
1.一种绝缘栅双极型晶体管IGBT老化测试电路，其特征在于，包括：第一电流源、第二电流源、正反向导流单元、待测单元；
所述待测单元包括IGBT和续流二极管FWD，所述FWD连接于所述IGBT集电极与发射极之间；
所述第一电流源通过所述正反向导流单元为所述待测单元提供老化测试电流，所述正反向导流单元用于调整老化测试电流流经所述待测单元的方向，以通过流经所述待测单元的老化测试电流方向模拟所述IGBT工作状态；
所述第二电流源与所述待测单元并联，为所述待测单元提供结温测试电流，以测试所述待测单元在结温测试电流下的饱和电压，并通过所述饱和电压对所述IGBT进行老化测试。
2.根据权利要求1所述的老化测试电路，其特征在于，所述正反向导流单元包括第一GTO，第二GTO、第三GTO及第四GTO；
所述第一GTO和所述第二GTO的正极与所述第一电流源的正极连接，所述第一GTO负极与所述IGBT的集电极连接，所述第二GTO负极与所述IGBT的发射极连接；
所述第三GTO及第四GTO的负极与所述第一电流源的负极连接，所述第三GTO正极与所述IGBT的集电极连接，所述第四GTO的正极与所述IGBT的发射极连接。
3.根据权利要求2所述的老化测试电路，其特征在于，所述电路还包括第五GTO；
所述第五GTO的正极与所述第一电流源的正极连接，所述第五GTO的负极与所述第一电流源的负极连接，所述第五GTO所在支路为所述老化测试电流的续流通道。
4.根据权利要求2所述的老化测试电路，其特征在于，所述电路还包括续流二极管，所述续流二极管与所述第一电流源并联连接，用于对所述老化测试电路续流。
5.根据权利要求4所述的老化测试电路，其特征在于，所述续流二极管为肖特基二极管SBD。
6.根据权利要求4所述的老化测试电路，其特征在于，所述续流二极管为快恢复二极管FRD。
7.根据权利要求3或4所述的老化测试电路，其特征在于，所述电路还包括电感，所述电感设置在所述第一电流源与所述正反向导流单元之间，用于对所述老化测试电流进行稳流。
8.根据权利要求7所述的老化测试电路，其特征在于，所述电路还包括电压表；
所述电压表与所述待测单元并联连接，用于测试所述待测单元在结温测试电流下的饱和电压。
9.根据权利要求8所述的老化测试电路，其特征在于，所述电路还包括吸收单元；
所述吸收单元与所述待测单元并联，用于吸收所述待测单元中IGBT的尖峰电压。
10.根据权利要求9所述的老化测试电路，其特征在于，所述吸收单元包括电阻和电容，所述电阻和电容串联连接后与所述待测单元并联连接。
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