[实用新型]测试装置有效

专利信息
申请号: 201821625939.7 申请日: 2018-09-30
公开(公告)号: CN209148800U 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 范金智 申请(专利权)人: 华显光电技术(惠州)有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 邓云鹏
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种测试装置,包括:检测芯片、第一测试线路、至少一个第二测试线路和至少一个测试电容,其中,检测芯片具有一个信号发出端和至少一个信号接收端,每一信号接收端与一第二测试线路相对应;每一第二测试线路分别与信号发出端、第一测试线路以及与第二测试线路相对应的信号接收端共同组成一测试回路,且每一测试回路均串联有一测试电容;每一第二待测线路还用于与一第二测试线路相对应,每一测试回路均串联第一待测线路以及与第二测试线路相对应的第二待测线路。上述测试装置,通过设置检测芯片、第一测试线路、第二测试线路和测试电容并组成测试回路,能够测试待测线路的开路和短路情况。
搜索关键词: 测试线路 测试回路 信号接收端 测试电容 测试装置 检测芯片 串联 本实用新型 设置检测 短路 开路 测试 芯片
【主权项】:
1.一种测试装置,用于测试FPC连接器上的待测线路,所述待测线路包括一个第一待测线路和至少一个第二待测线路,其特征在于,所述测试装置包括:检测芯片、第一测试线路、至少一个第二测试线路和至少一个测试电容,其中,所述检测芯片具有一个信号发出端和至少一个信号接收端,每一所述信号接收端与一所述第二测试线路相对应;每一所述第二测试线路分别与所述信号发出端、所述第一测试线路以及与所述第二测试线路相对应的所述信号接收端共同组成一测试回路,且每一所述测试回路均串联有一所述测试电容;每一所述第二待测线路还用于与一所述第二测试线路相对应,每一所述测试回路均串联所述第一待测线路以及与所述第二测试线路相对应的所述第二待测线路。
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