[实用新型]J750EX-HD集成电路测试系统通用适配器

摘要

本实用新型涉及J750EX‑HD集成电路测试系统通用适配器，包括测试适配板和测试负载卡，其特征是测试适配板包括基板、被测器件座、拨码开关阵列、继电器阵列、测试负载卡连接器和用于连接J750EX‑HD测试系统的插座，拨码开关阵列的两端分别与被测器件座和GND信号及DPS源连接，继电器阵列的两端分别与被测器件座和负载卡连接器连接；测试负载卡包括适配板连接器、测试通道焊接区、GND焊接区和DPS焊接区，测试负载卡通过适配板连接器与负载卡连接器的配合与测试适配板连接。本实用新型通用性强、增加外围元件简单方便、使用灵活、操作容易。

主权项

1.一种J750EX‑HD集成电路测试系统通用适配器，包括测试适配板(1)和测试负载卡(2)，其特征在于：测试适配板(1)包括基板(1.1)、被测器件座(1.2)、拨码开关阵列(1.3)、继电器阵列(1.4)、测试负载卡连接器(1.5)和用于连接J750EX‑HD测试系统的插座(1.6)，基板(1.1)为上下表面均设计有链接适配板元件印制线的PCB板，基板(1.1)正面的中部设置有被测器件座(1.2)，被测器件座(1.2)的左右两侧依次对称设置有拨码开关阵列(1.3)、继电器阵列(1.4)和测试负载卡连接器(1.5)，测试适配板(1)背面位于被测器件座(1.2)上下两侧的部位分别设置有用于连接J750EX‑HD测试系统的插座(1.6)，拨码开关阵列(1.3)的一端与被测器件座(1.2)连接，拨码开关阵列(1.3)的另一端通过插座(1.6)分别与J750EX‑HD测试系统的GND信号和DPS源连接，继电器阵列(1.4)的一端与被测器件座(1.2)连接，继电器阵列(1.4)的另一端与负载卡连接器(1.5)连接；测试负载卡(2)包括适配板连接器(2.1)、测试通道焊接区(2.2)、GND焊接区(2.3)和DPS焊接区(2.4)，测试负载卡(2)通过适配板连接器(2.1)与负载卡连接器(1.4)的配合与测试适配板(1)连接。