[实用新型]一种晶片自动检测装置有效
| 申请号： | 201821484178.8 | 申请日： | 2018-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN208780235U | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | 杨娅;刘丽梅;曾繁春 | 申请（专利权）人： | 深圳连硕自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙) 44451 | 代理人： | 罗志伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型适用于晶片检测技术领域，提供了一种晶片自动检测装置，包括横移支架，所述横移支架上设有横移滑轨、横移滑块以及横移驱动机构，所述横移驱动机构驱动所述横移滑块沿所述横移滑轨滑动，所述横移滑块上设有升降支架，所述升降支架上设有升降机构，所述升降机构上设有连接板，所述连接板上设有检测机构，所述检测机构下方设有输送机构，所述输送机构上设有顶升机构，本实用新型的晶片自动检测装置减少了占用空间；缩短了检测时间，从而提高了工作效率；降低了检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 自动检测装置 横移滑块 横移驱动机构 本实用新型 横移滑轨 横移支架 升降机构 升降支架 输送机构 连接板 种晶 顶升机构 工作效率 晶片检测 占用空间 滑动 检测 晶片 驱动 | ||
【主权项】：
1.一种晶片自动检测装置，其特征在于：包括横移支架，所述横移支架上设有横移滑轨、横移滑块以及横移驱动机构，所述横移驱动机构驱动所述横移滑块沿所述横移滑轨滑动，所述横移滑块上设有升降支架，所述升降支架上设有升降机构，所述升降机构上设有连接板，所述连接板上设有检测机构，所述检测机构下方设有输送机构，所述输送机构上设有顶升机构，所述检测机构包括通过固定支架与所述连接板连接的固定板、安装在所述固定支架上的分离气缸、位于所述固定板下方且与所述分离气缸连接的分离机构、安装在所述固定板上的压紧机构、位于所述分离机构下方且与所述压紧机构连接的压板以及设置在所述固定板四周的多个吸盘。
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