[实用新型]一种倒装发光二极管测试设备有效

专利信息
申请号: 201821476314.9 申请日: 2018-09-10
公开(公告)号: CN209182443U 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 韦日文;李景均 申请(专利权)人: 深圳市矽电半导体设备有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种倒装发光二极管测试设备。所述倒装发光二极管测试设备包括测试部,所述测试部包括,第一安装部,设置有第一导轨和第二导轨;所述第一导轨平行于第二导轨;所述第一导轨与第二导轨之间设置有第一安装孔;承料部,同时连接于第一导轨和第二导轨,使承料部能够相对于第一安装部沿第一方向运动;积分球组件,安装于所述第一安装孔;通过第一安装部设置第一安装孔的方式取代常规在第一安装部设置悬臂梁的方式,悬臂梁结构易于受到设备振动的干扰,从而影响LED晶粒的光参数测试;承料部能够沿第一方向运动到正对应积分球组件的位置。
搜索关键词: 导轨 倒装发光二极管 测试设备 安装孔 积分球 测试 本实用新型 悬臂梁结构 设备振动 光参数 悬臂梁 平行
【主权项】:
1.一种倒装发光二极管测试设备(100),包括测试部(20),其特征在于:所述测试部(20)包括,第一安装部(21),设置有第一导轨(221)和第二导轨(222);所述第一导轨(221)平行于第二导轨(222);所述第一导轨(221)与第二导轨(222)之间设置有第一安装孔(211);承料部(23),同时连接于第一导轨(221)和第二导轨(222),使承料部(23)能够相对于第一安装部(21)沿第一方向(a)运动;积分球组件(24),安装于所述第一安装孔(211)。
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