[实用新型]分析装置有效
| 申请号： | 201821435161.3 | 申请日： | 2018-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN208636289U | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 黄明军;赵骄阳;聂灿勋;李伟 | 申请（专利权）人： | 奥特斯科技(重庆)有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王晖;李丙林 |
| 地址： | 401133 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 一种分析装置，用于分析面板(110)上的识别特征(111)的阵列，该面板包括多个部件承载件或其预制件。分析装置(100)包括：被配置成用于利用初级电磁辐射(103)照射识别特征(111)的电磁辐射源(101)以及被配置成用于对由识别特征(111)反射初级电磁辐射(103)而产生的次级电磁辐射(104)进行检测的电磁辐射检测器(102)。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁辐射 分析装置 电磁辐射检测器 电磁辐射源 承载件 预制件 反射 配置 照射 检测 分析 | ||
【主权项】：
1.一种分析装置，用于分析面板(110)上的识别特征(111)的阵列，所述面板包括多个部件承载件或其预制件，其特征在于，所述分析装置(100)包括：电磁辐射源(101)，被配置成用于利用初级电磁辐射(103)照射所述识别特征(111)；电磁辐射检测器(102)，被配置成用于对由所述识别特征(111)反射所述初级电磁辐射(103)而产生的次级电磁辐射(104)进行检测。
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