[实用新型]一种激光器测试设备有效

专利信息
申请号: 201821339748.4 申请日: 2018-08-16
公开(公告)号: CN208872494U 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 杜威;张浩 申请(专利权)人: 深圳通感微电子有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 代理人: 林俭良;高瑞
地址: 518034 广东省深圳市福田区红*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及激光器测试设备,包括机架、设置在所述机架上供激光器放置的测试板、设置在所述机架上以对所述测试板上的所述激光器进行检测的探头;所述测试板包括底板以及设置在所述底板上以给所述激光器接电的若干测试插座;所述若干测试插座呈阵列式排布在所述底板上。该激光器测试设备可一次测试多个激光器,省去了人工抓取激光器的步骤,提高了测试效率。该激光器测试设备具有结构简单、制作成本低、测试效率高的优点。
搜索关键词: 激光器 激光器测试 底板 测试板 测试插座 测试效率 抓取 本实用新型 阵列式排布 探头 接电 测试 检测 制作
【主权项】:
1.一种激光器测试设备,其特征在于,包括机架(11)、设置在所述机架(11)上供激光器(20)放置的测试板(12)、设置在所述机架(11)上以对所述测试板(12)上的所述激光器(20)进行检测的探头(15);所述测试板(12)包括底板(121)以及设置在所述底板(121)上以给所述激光器(20)接电的若干测试插座(122);所述若干测试插座(122)呈阵列式排布在所述底板(121)上。
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