[实用新型]一种可调磁偏角复测校核装置有效
申请号: | 201821244813.5 | 申请日: | 2018-08-02 |
公开(公告)号: | CN208749348U | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 文明超;李乐乐;叶林华;李自洲;王丰;聂洪远;邓森;关剑;程苗苗;周波 | 申请(专利权)人: | 中国葛洲坝集团三峡建设工程有限公司 |
主分类号: | E21B47/0228 | 分类号: | E21B47/0228 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 吴思高 |
地址: | 443000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种可调磁偏角复测校核装置,包括由底座、调平螺杆组成的基座,所述基座上部布设一根限位螺杆支架,限位螺杆支架搭接定位槽,定位槽外立面刻印磁偏角基准线。所述限位螺杆支架上设有用于定位的锁定螺母,锁定螺母顶部与定位槽形成限位卡扣。所述底座中部安装气泡调平仪,通过调平螺杆使底座水平。所述底座与限位螺杆支架形成固定角度,定位槽中部设有限位插孔。所述底座与定位槽及限位螺杆支架连接部位设置环形活动铰接。本实用新型一种可调磁偏角复测校核装置,能够消除常规磁偏角参数误差,造成导孔偏斜的问题。 | ||
搜索关键词: | 限位螺杆 磁偏角 定位槽 校核装置 复测 可调 支架 底座 螺母 调平螺杆 锁定 支架连接部位 本实用新型 定位槽中部 参数误差 底座水平 底座中部 活动铰接 基座上部 限位卡扣 支架形成 基准线 外立面 布设 插孔 搭接 导孔 调平 刻印 偏斜 | ||
【主权项】:
1.一种可调磁偏角复测校核装置,包括由底座(1)、调平螺杆(2)组成的基座,其特征在于:所述基座上部布设一根限位螺杆支架(3),限位螺杆支架(3)搭接定位槽(5),定位槽(5)外立面刻印磁偏角基准线(4)。
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