[实用新型]一种可调磁偏角复测校核装置有效

专利信息
申请号: 201821244813.5 申请日: 2018-08-02
公开(公告)号: CN208749348U 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 文明超;李乐乐;叶林华;李自洲;王丰;聂洪远;邓森;关剑;程苗苗;周波 申请(专利权)人: 中国葛洲坝集团三峡建设工程有限公司
主分类号: E21B47/0228 分类号: E21B47/0228
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 吴思高
地址: 443000 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种可调磁偏角复测校核装置,包括由底座、调平螺杆组成的基座,所述基座上部布设一根限位螺杆支架,限位螺杆支架搭接定位槽,定位槽外立面刻印磁偏角基准线。所述限位螺杆支架上设有用于定位的锁定螺母,锁定螺母顶部与定位槽形成限位卡扣。所述底座中部安装气泡调平仪,通过调平螺杆使底座水平。所述底座与限位螺杆支架形成固定角度,定位槽中部设有限位插孔。所述底座与定位槽及限位螺杆支架连接部位设置环形活动铰接。本实用新型一种可调磁偏角复测校核装置,能够消除常规磁偏角参数误差,造成导孔偏斜的问题。
搜索关键词: 限位螺杆 磁偏角 定位槽 校核装置 复测 可调 支架 底座 螺母 调平螺杆 锁定 支架连接部位 本实用新型 定位槽中部 参数误差 底座水平 底座中部 活动铰接 基座上部 限位卡扣 支架形成 基准线 外立面 布设 插孔 搭接 导孔 调平 刻印 偏斜
【主权项】:
1.一种可调磁偏角复测校核装置,包括由底座(1)、调平螺杆(2)组成的基座,其特征在于:所述基座上部布设一根限位螺杆支架(3),限位螺杆支架(3)搭接定位槽(5),定位槽(5)外立面刻印磁偏角基准线(4)。
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