[实用新型]一种集成电路测试装置

摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试装置，包括装置壳体、控制柜、夹座、测试盒，所述装置壳体上端设置有上盖板，所述装置壳体一侧设置有所述控制柜，所述控制柜上端设置有显示器，所述显示器前侧设置有控制键，所述控制柜内部设置有分线板，所述分线板后端设置有控制器，所述控制器后端设置有处理器，所述上盖板上设置有提示灯，所述提示灯后侧设置有所述测试盒，所述测试盒一侧设置有所述夹座；有益效果在于：本实用新型结构简单，操作便捷，能够根据集成电路板的大小调整推板的位置，固定集成电路板，从而有效的测试集成电路板，同时还利用活动锁扣，方便快捷的安装和拆卸集成电路板，提高工作效率。

主权项

1.一种集成电路测试装置，其特征在于：包括装置壳体（1）、控制柜（2）、夹座（7）、测试盒（5），所述装置壳体（1）上端设置有上盖板（8），所述装置壳体（1）一侧设置有所述控制柜（2），所述控制柜（2）上端设置有显示器（4），所述显示器（4）前侧设置有控制键（3），所述控制柜（2）内部设置有分线板（19），所述分线板（19）后端设置有控制器（20），所述控制器（20）后端设置有处理器（21），所述上盖板（8）上设置有提示灯（9），所述提示灯（9）后侧设置有所述测试盒（5），所述测试盒（5）一侧设置有所述夹座（7），所述测试盒（5）内侧设置有推板（6），所述推板（6）前端设置有集成电路板（22），所述推板（6）后端设置有第二弹簧（18），所述第二弹簧（18）后端设置有导柱（17），所述测试盒（5）下端设置有接线柱（14），所述接线柱（14）下端设置有测试板（16），所述夹座（7）上端设置有按扣（13），所述按扣（13）内部设置有顶柱（11），所述按扣（13）和所述顶柱（11）之间设置有第一弹簧（12），所述顶柱（11）下端设置有锁扣（10），所述锁扣（10）下端设置有转轴（15），所述测试板（16）通过导线连接于所述分线板（19），所述提示灯（9）通过导线连接于所述分线板（19），所述分线板（19）通过导线连接于所述处理器（21），所述处理器（21）通过导线连接于所述控制器（20），所述分线板（19）通过导线连接于所述控制器（20），所述显示器（4）通过导线连接于所述控制器（20），所述控制键（3）通过导线连接于所述控制器（20），所述装置壳体（1）通过螺栓连接于所述控制柜（2），所述上盖板（8）通过螺钉连接于所述装置壳体（1），所述测试盒（5）通过螺钉连接于所述上盖板（8），所述接线柱（14）通过胶粘和所述测试盒（5）连接，所述提示灯（9）镶嵌于所述上盖板（8）。