[实用新型]一种双光束磁光谱仪

摘要

本实用新型涉及物理测量技术领域，一种双光束磁光谱仪，包括计算机、激光器I、偏振片I、激光器II、偏振片II、凸透镜I、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、样品台、磁体、信号发生器、示波器、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜I、探测器I、探测器II、沃拉斯顿棱镜II、探测器III、探测器IV，所述探针中沿圆台轴线方向具有通孔I、通孔II和通孔III，所述通孔II为沿探针圆台轴线方向，所述通孔I和通孔III的轴线分别与所述通孔II轴线成正负45度角，激光束I以45度角入射，激光束II垂直入射，分别采用两组探测器记录反射光光强，分析反射光强的差值，无需改变装置结构便能够同时测量样品的二次磁光克尔效应信号及纵向磁光克尔效应信号。

主权项

1.一种双光束磁光谱仪，主要包括计算机、激光器I、偏振片I、激光器II、偏振片II、凸透镜I、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、样品台、磁体、信号发生器、示波器、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜I、探测器I、探测器II、沃拉斯顿棱镜II、探测器III、探测器IV，xyz为空间直角坐标系、xy平面为水平面、zx平面与水平面垂直，探针位于原子力显微镜下端，样品位于样品台上，所述样品、样品台、磁体依次位于探针下方，所述探针为原子力显微镜探针且为圆台形状，所述圆台的上底面直径为3微米、下底面直径为1.5微米，所述圆台轴线方向与水平面垂直，所述透镜台透光，其特征是：所述探针中在zx平面内具有通孔I、通孔II和通孔III，所述通孔II的轴线沿所述圆台轴线方向，所述通孔I和通孔III的轴线分别位于所述通孔II轴线的两侧、且均与所述通孔II轴线成45度角；激光器I发出激光束I，所述激光束I能够依次经偏振片I、凸透镜I、透镜台、原子力显微镜、通孔I，并照射到样品上，从样品反射的光能够依次经通孔III、原子力显微镜、透镜台、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜I，然后分成两束正交的偏正光并分别进入探测器I和探测器II，探测器I和探测器II均电缆连接计算机，信号发生器和示波器分别电缆连接磁体；激光器II发出激光束II，所述激光束II能够依次经偏振片II、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、通孔II，并照射到样品上，从样品反射的光能够依次经通孔II、原子力显微镜、透镜台、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜II，然后分成两束正交的偏振光并分别进入探测器III和探测器IV，探测器III和探测器IV均电缆连接计算机，样品台能够三维移动并能够在xy平面内绕其中心轴旋转。