[实用新型]一种新型芯片测试头

摘要

本实用新型公开了一种新型芯片测试头，它包括横梁（1）、测试头主体（2）、绝缘筒（3）和电池（4），横梁（1）的底部固设有支架（5），支架（5）上设置有垂向设置的导轨（6），导轨（6）上安装有滑块（7），测试头主体（2）设置于滑块（7）上，测试头主体（2）上设置有上铜条（8），绝缘筒（3）设置于测试头主体（2）的正下方，绝缘筒（3）的上下端部均设置有开口，下开口内经铰链座（14）铰接有塑料板（9），塑料板（9）内设置有下铜条（10），下铜条（10）贯穿塑料板（9）设置，所述电池（4）的正极经导线A与下铜条（10）固连。本实用新型的有益效果是：结构紧凑、提高测试效率、降低测试成本。

主权项

1.一种新型芯片测试头，其特征在于：它包括横梁（1）、测试头主体（2）、绝缘筒（3）和电池（4），所述横梁（1）的底部固设有支架（5），支架（5）上设置有垂向设置的导轨（6），导轨（6）上安装有滑块（7），所述测试头主体（2）设置于滑块（7）上，测试头主体（2）上设置有上铜条（8），所述绝缘筒（3）设置于测试头主体（2）的正下方，绝缘筒（3）的上下端部均设置有开口，下开口内经铰链座（14）铰接有塑料板（9），塑料板（9）内设置有下铜条（10），下铜条（10）贯穿塑料板（9）设置，所述电池（4）的正极经导线A与下铜条（10）固连，电池（4）的负极与电流表（16）的输入端经导线B连接，电流表（16）的输出端经导线C与上铜条（8）固连；所述测试头主体（2）的底部设置有L板（11），L板（11）的水平板位于塑料板（9）的正下方，水平板的顶部固设有弹簧A（12），弹簧A（12）的顶部固定于塑料板（9）上，所述测试头主体（2）的顶部还固设有弹簧B（15），弹簧B（15）的另一端固定于横梁（1）上。