[实用新型]一种半导体高倍放大镜检测设备有效
| 申请号： | 201820387191.5 | 申请日： | 2018-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN208043702U | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 孙德付 | 申请（专利权）人： | 无锡升滕半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司： | 无锡松禾知识产权代理事务所(普通合伙) 32316 | 代理人： | 段小丽 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体高倍放大镜检测设备，包括底座和设置在所述底座上的检测台，所述检测台上设置有夹持机构，所述底座上相邻检测台设置有伸缩机构，所述伸缩机构沿垂直于底座的方向上、下伸缩设置，所述伸缩机构的端部阻尼铰接设置有支撑杆，所述支撑杆伸向检测台，所述支撑杆的端部设置有高倍放大镜，所述高倍放大镜位于检测台的上方；所述伸缩机构的底部设置有滑动位移机构，所述伸缩机构通过滑动位移机构向检测台滑动位移设置。本实用新型提供一种半导体高倍放大镜检测设备，方便观察及发现半导体零件上的缺陷，结构简单，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 高倍放大镜 伸缩机构 检测台 底座 滑动位移 检测设备 支撑杆 半导体 本实用新型 半导体零件 夹持机构 阻尼铰接 伸缩 垂直 检测 观察 发现 | ||
【主权项】：
1.一种半导体高倍放大镜检测设备，其特征在于：包括底座(1)和设置在所述底座(1)上的检测台(6)，所述检测台(6)上设置有夹持机构(5)，所述底座(1)上相邻检测台(6)设置有伸缩机构(2)，所述伸缩机构(2)沿垂直于底座(1)的方向上、下伸缩设置，所述伸缩机构(2)的端部阻尼铰接设置有支撑杆(3)，所述支撑杆(3)伸向检测台，所述支撑杆(3)的端部设置有高倍放大镜(4)，所述高倍放大镜(4)位于检测台(6)的上方；所述伸缩机构(2)的底部设置有滑动位移机构，所述伸缩机构(2)通过滑动位移机构向检测台(6)滑动位移设置。
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