[实用新型]Ti/Ni/Ag材料体系的基片集成波导结构有效

专利信息
申请号: 201820285057.4 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN207938784U 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 高杨;文数文;李君儒;张大鹏;许夏茜;刘婷婷;郭辉辉;韩宾 申请(专利权)人: 西南科技大学
主分类号: H01P3/08 分类号: H01P3/08;H01P1/203;H01P5/18;H01P7/08;H01P5/16;H01P1/387;H01Q13/10;H01P11/00;H01L23/66
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了Ti/Ni/Ag材料体系的基片集成波导结构,由通孔、W覆盖层、钝化层、正面Ti/Ni/Ag金属叠层、Si衬底、背面金属叠层构成。其中,正面Ti/Ni/Ag金属叠层具有图形化;Si衬底为高阻Si。本实用新型的基片集成波导结构可以避免正面金属为Au时对IC工艺线的污染问题以及正面金属为Cu时带来的工艺过程复杂问题,能满足制造过程与IC工艺的兼容从而大大降低了批量生产的成本,并缩短了生产周期。同时在该材料体系中引入比Au和Cu具有更低电阻率的Ag,使基片集成波导结构具有更小的传输损耗,即器件具有更小的插入损耗,从而提高了器件射频性能。此外,加入钝化层可以有效防止Ag的电迁移。最后,其打孔工艺不完全将衬底打穿,避免了在后面IC工艺中衬底吸附漏真空的问题。通过这种简洁的方案很好的解决了IC工艺中高深宽比通孔刻蚀的难题,彻底解决工艺兼容性问题。
搜索关键词: 基片集成波导结构 衬底 材料体系 金属叠层 本实用新型 钝化层 通孔 生产周期 金属 工艺兼容性 插入损耗 传输损耗 打孔工艺 低电阻率 复杂问题 高深宽比 工艺过程 射频性能 污染问题 制造过程 电迁移 覆盖层 图形化 高阻 刻蚀 吸附 背面 兼容 引入 生产
【主权项】:
1.Ti/Ni/Ag材料体系的基片集成波导结构,其特征在于:包括通孔、W覆盖层、钝化层、正面Ti/Ni/Ag金属叠层、Si衬底、背面金属叠层构成;其中,正面Ti/Ni/Ag金属叠层具有图形化;Si衬底为高阻Si。
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