[实用新型]继电器光耦检测装置及具有该装置的电磁继电器有效

专利信息
申请号: 201820266704.7 申请日: 2018-02-24
公开(公告)号: CN207977276U 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 李温顺;刘殿桃;涂若愚 申请(专利权)人: 厦门赛特勒继电器有限公司
主分类号: H01H50/08 分类号: H01H50/08;H01H50/56
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 361000 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型公开了一种继电器光耦检测装置,主要包括随动件和光耦检测器,随动件与电磁继电器的磁动构件相连接,随动件还具有一个挡片,挡片与光耦检测器的检测区相对应,电磁继电器的线圈通电或断电后磁动构件发生动作,随动件随磁动构件移动,挡片随之离开或者进入光耦检测器的检测区。该继电器光耦检测装置,通过分析光耦检测器给出的信号检测磁动构件的状态并将其与电磁继电器的线圈通断状态进行比较,由此判断电磁继电器的动作是否准确、继电器是否损坏。该装置可以用独立的电平信号监测动静触点是否闭合或者断开,由此提高了产品使用的安全性,或也可将光耦检测器当做辅助信号继电器使用。本实用新型还公开了一种具有该装置的电磁继电器。
搜索关键词: 电磁继电器 继电器 光耦检测器 随动件 磁动 光耦检测装置 挡片 本实用新型 检测区 产品使用 电平信号 辅助信号 构件移动 通断状态 线圈通电 信号检测 闭合 触点 断开 断电 监测 分析
【主权项】:
1.继电器光耦检测装置,其特征在于,主要包括随动件和光耦检测器,所述随动件与电磁继电器的磁动构件相连接,所述随动件还具有一个挡片,所述挡片与所述光耦检测器的检测区相对应,所述随动件随所述磁动构件移动,所述挡片随之离开或者进入所述光耦检测器的检测区,所述挡片离开所述光耦检测器的检测区后所述光耦检测器的光通路导通,进入所述光耦检测器的检测区后阻隔所述光耦检测器的光通路,所述光耦检测器据此给出一个导通或者断开的信号。
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