[实用新型]结构光投影快速测量装置有效
| 申请号： | 201820076413.1 | 申请日： | 2018-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN207741710U | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 宋宗玺;李宝鹏;雷浩;淡丽军;王峰涛;孙忠涵;李伟;成鹏飞;高伟;樊学武 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型属于光电检测领域，具体涉及一种结构光投影快速测量装置。测量装置包括相机和布置在相机周围的光学投影系统，所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源，光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图；N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差，N个光源分别通过同步电路与相机相连。本实用新型解决了现有的测量设备体积大、质量重且测量速度慢的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 衍射光栅 光学投影系统 快速测量装置 本实用新型 结构光投影 相移条纹图 相机 光源 光栅 测量设备 测量装置 光电检测 光源投影 同步电路 正弦图案 相位差 测量 | ||
【主权项】：
1.一种结构光投影快速测量装置，其特征在于：包括相机和布置在相机周围的光学投影系统，所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源，光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图；N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差，N个光源分别通过同步电路与相机相连。
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