[发明专利]射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质

摘要

本发明公开的射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质，基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器的测试条件参数的值进行设置，测试仪器基于这种设置对待测电子标签进行盘点，记录盘点过程中待测电子标签产生的防碰撞参数值，建立防碰撞参数值与测试条件参数取值组合的映射关系，对待测电子标签进行多次盘点，从而得到每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种，直至按照上述过程遍历测试条件参数的所有取值组合，这样就可以得到各测试条件参数取值组合与防碰撞参数相关的值的映射关系，然后基于该映射关系对待测电子标签的防碰撞性能进行评估，从而可以得到更全面、可重现、更加准确的测试结果。

主权项

1.一种射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，包括：S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对所述测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置；S12：所述测试仪器对待测电子标签进行一次盘点；S13：记录每次盘点过程中所述待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立所述防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系，所述防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种；S14：针对所述测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12；S15：分别对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种；S16：判断是否遍历所述测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11；S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的所述待测电子标签的防碰撞性能进行评估。