[发明专利]一种32位MCU芯片测试系统及其测试方法

摘要

本发明公开了一种32位MCU芯片测试系统及测试方法，该测试系统包括有ATE测试机台和嵌入式微处理器，所述ATE测试机台与嵌入式微处理器通过数据传输接口连接；嵌入式微处理器中设置有：用于完成核心计算及控制功能的控制模块、存储模块、固件更新模块、多电源管理模块、自适应接口模块、接触检测模块、扫描模块、指标测试模块和良率控制模块；本发明旨在利用多平台协同处理，对芯片模拟性能特性进行测试和良率分析，同时可以测试多种模拟参数，采用多电源控制和高精度线扫技术，整个测试和良率分析控制过程无需人为参与，能够自动完成多批次产品的良率信息并分析，便捷高效。

主权项

1.一种32位MCU芯片测试系统，该系统包括有ATE测试机台和嵌入式微处理器，所述ATE测试机台与嵌入式微处理器通过数据传输接口连接；其特征在于，所述嵌入式微处理器中设置有：用于完成核心计算及控制功能的控制模块、用于完成多种类型的烧录电压的供给和供电电压供给的多电源管理模块、用于将采集到的数据和状态信息保存，实现对量产CP测试数据、芯片配置信息和代烧录hex文件的存储功能存储模块、用于主要实现嵌入式从控系统进行固件升级和芯片时序逻辑功能的更新固件更新模块、用于作为对芯片进行烧录操作的SWD接口，并且实现测试数据和状态信息传输的通信接口的自适应接口模块、用于检测CP针卡与被测芯片PAD的接触电阻和漏电电流的测试，同时预估芯片连接性是否正常的接触检测模块、用完成对被测芯片的性能参数进行检测的指标测试模块、用于完成外部DAC对被测芯片高速SARADC模块输入高精度模拟信号量，被测芯片的ADC将输入的模拟量转换成对应的数字量，并将数字量通过通信接口输出给嵌入式协处理系统，进而发送给测试机台处理的线性扫描模块、主要对芯片DFT功能、电气特性参数及芯片失效数量进行统计分析的良率控制模块；所述存储模块、固件更新模块、多电源管理模块、自适应接口模块、接触检测模块、扫描模块、指标测试模块和良率控制模块均与控制模块连接，且该嵌入式微处理器通过自适应接口模块与外部芯片测试设备连接。