[发明专利]一种NMOS晶体管在审
申请号: | 201811619950.7 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN111384145A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | 刘奕晨 | 申请(专利权)人: | 西安科锐盛创新科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/161;H01L29/78 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 孙涛涛 |
地址: | 710065 陕西省西安市高新区高新路86号*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种NMOS晶体管,包括:半导体衬底(101)、Ge外延层(102)、SiGe层(103)、Ge沟道层(104)、源区(105)、漏区(106)、介质层(107)、栅极(108)、源极(109)和漏极(110);其中,所述Ge外延层(102)位于所述半导体衬底(101)上且为脊状结构;所述SiGe层(103)位于所述Ge外延层(102)上;所述Ge沟道层(104)位于所述Ge外延层(102)和所述SiGe层(103)上;所述栅极(108)位于所述Ge沟道层(104)上中间位置;本发明提供的NMOS晶体管相对于传统NMOS晶体管,其载流子迁移率有了很大提升,在减小NMOS晶体管尺寸的同时提高了NMOS晶体管的电流驱动与频率特性。 | ||
搜索关键词: | 一种 nmos 晶体管 | ||
【主权项】:
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