[发明专利]超大尺寸电容屏单膜的开短路测试方法及装置有效
| 申请号： | 201811617271.6 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109444650B | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 刘晓兵 | 申请（专利权）人： | 深圳市欧珀达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52;G01R31/54 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 陈卫;练逸夫 |
| 地址： | 518118 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种超大尺寸电容屏单膜的开短路测试方法和测试设备，包括如下步骤：对电容屏单模的金手指处设置与金手指导电的扩展延伸结构。采用多个独立测试电极单独与每个所述金手指的末端导电连接，同时采用一个公共测试电极与一导电长条连接，并且将所述导电长条压合在所述电容屏单膜上，形成电容结构。分别读取每个独立测试电极与公共测试电极之间的电容值和电流值，从而确定所述电容屏单膜的是否存在开路或短路。本发明通过增加测试点设计，降低探针压合治具的精准度的要求，便于治具的制作与维护。同时保护接口处金手指位置银浆不会受损。并利用条形导电体与单膜形成电容，不限于尺寸，不需要大型设备，节约测试成本，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 超大 尺寸 电容 屏单膜 短路 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种超大尺寸电容屏单膜的开短路测试方法，其特征在于：包括如下步骤：S10、对电容屏单模的金手指处设置与金手指导电的扩展延伸结构，以扩大金手指末端的与检测压针的接触点的宽度；S20、采用多个独立测试电极单独与每个所述金手指的末端导电连接，同时采用一个公共测试电极与一导电长条连接，并且将所述导电长条压合在所述电容屏单膜上，形成电容结构；S30、分别读取每个独立测试电极与公共测试电极之间的电容值大小，从而确定所述电容屏单膜的是否存在开路；S40、在特定时间间隔内两侧检测独立测试电极的电流值，并根据两个电流值的绝对差判断所述电容屏单膜的是否存在短路。
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