[发明专利]一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法有效

专利信息
申请号: 201811571971.6 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109387567B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 赵纪元;王彪;王琛玮;卢秉恒 申请(专利权)人: 西安增材制造国家研究院有限公司
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/44
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 唐沛
地址: 710300 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法。该方法能够有效抑制增材制造过程中的温度、振动、电磁干扰等因素对检测结果准确性的影响。该方法的主要步骤包括【1】对超声波信号进行归一化、去趋势项、滤波预处理;【2】超声波信号的波速修正;【3】特征增强与数据成像;【4】缺陷识别与反馈处理。
搜索关键词: 一种 基于 波速 修正 制造 激光 超声 检测 数据处理 方法
【主权项】:
1.一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于,包括以下步骤:【1】对超声波信号进行归一化、去趋势项、滤波预处理;【2】超声波信号的波速修正;【2.1】离线环境标定超声波信号的“温度‑波速”曲线;【2.2】实时采集检测点温度数据;【2.3】将每一个检测点的A扫信号通过所述“温度‑波速”曲线转化成“距离‑幅值”表示;【2.4】对“距离‑幅值”表示的A扫信号进行升采样;【3】特征增强与数据成像;【3.1】采用希尔伯特包络算法对A扫信号进行特征增强;【3.2】对特征增强后的A扫信号沿一扫查方向进行重组得到B扫图像,所述B扫图像能够识别新成形层任一纵截面的缺陷;【3.3】取每一个A扫信号的峰值或者有效值,按照扫查位置数据进行重新排布,得到新成形层的C扫图像,所述C扫图像能够直观地识别新成形层内部缺陷的位置、大小以及深度;【4】缺陷识别与反馈处理。
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