[发明专利]一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法有效
申请号: | 201811571971.6 | 申请日: | 2018-12-21 |
公开(公告)号: | CN109387567B | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 赵纪元;王彪;王琛玮;卢秉恒 | 申请(专利权)人: | 西安增材制造国家研究院有限公司 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/44 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 唐沛 |
地址: | 710300 陕西省西安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 波速 修正 制造 激光 超声 检测 数据处理 方法 | ||
1.一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于,包括以下步骤:
【1】对超声波信号进行归一化、去趋势项、滤波预处理;
【2】超声波信号的波速修正;
【2.1】离线环境标定超声波信号的“温度-波速”曲线;
【2.1.1】在离线环境下用高温加热炉将增材制造样件加热到一定温度,测试不同温度下增材制件中超声波纵波、表面波的波速,得到一系列温度和相应波型的波速数据;
【2.1.2】采用多项式拟合方法对同种波型的温度、波速数据进行拟合,得到“温度-波速”曲线;
【2.2】实时采集检测点温度数据;
【2.3】将每一个检测点的A扫信号通过所述“温度-波速”曲线转化成“距离-幅值”表示;
【2.4】对“距离-幅值”表示的A扫信号进行升采样;
【3】特征增强与数据成像;
【3.1】采用希尔伯特包络算法对A扫信号进行特征增强;
【3.2】对特征增强后的A扫信号沿一扫查方向进行重组得到B扫图像,所述B扫图像能够识别新成形层任一纵截面的缺陷;
【3.3】取每一个A扫信号的峰值或者有效值,按照扫查位置数据进行重新排布,得到新成形层的C扫图像,所述C扫图像能够直观地识别新成形层内部缺陷的位置、大小以及深度;
【4】缺陷识别与反馈处理。
2.根据权利要求1所述的基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于:所述步骤【2.3】的具体步骤是:
将每个A扫信号的时间轴乘以该信号采集点温度对应的超声波波速,将A扫信号转换为“距离-幅值”表示。
3.根据权利要求1所述的基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于:所述步骤【2.4】的具体步骤是:
设常温T0下采集得到的信号点数为N0,在一温度Tx下通过波速修正得到的信号点数为Nx,则升采样系数k1=N0/Nx,通过升采样处理后,温度Tx下的A扫信号点数也成为N0。
4.根据权利要求1所述的基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于:所述步骤【1】的具体步骤是:
【1.1】将超声波信号波形除以超声波信号的强度值,进行归一化处理;
【1.2】采用多项式拟合的方法去除超声波信号的趋势项;
【1.3】采用带通滤波器对超声波信号进行滤波,得到超声表面波或纵波对应的频率范围内的信号。
5.根据权利要求1所述的基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于:所述步骤【4】的具体步骤是:
对B扫图像和C扫图像进行判断:
当新成形层中存在明显可见缺陷且难以修复时,终止增材制造过程并采用减材工艺去除新成形层材料,然后再继续进行增材制造;
当新成形层存在较小缺陷或者熔合不良时,采用重熔方式,修复已有缺陷;
当新成形层中存在微小缺陷时,实时调整增材制造工艺参数,优化新成形层质量;
若新成形层未见缺陷或者缺陷尺寸和数量满足许用值时,继续下一层的增材制造及检测。
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