[发明专利]一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法有效

专利信息
申请号: 201811571971.6 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109387567B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 赵纪元;王彪;王琛玮;卢秉恒 申请(专利权)人: 西安增材制造国家研究院有限公司
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/44
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 唐沛
地址: 710300 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 波速 修正 制造 激光 超声 检测 数据处理 方法
【权利要求书】:

1.一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于,包括以下步骤:

【1】对超声波信号进行归一化、去趋势项、滤波预处理;

【2】超声波信号的波速修正;

【2.1】离线环境标定超声波信号的“温度-波速”曲线;

【2.1.1】在离线环境下用高温加热炉将增材制造样件加热到一定温度,测试不同温度下增材制件中超声波纵波、表面波的波速,得到一系列温度和相应波型的波速数据;

【2.1.2】采用多项式拟合方法对同种波型的温度、波速数据进行拟合,得到“温度-波速”曲线;

【2.2】实时采集检测点温度数据;

【2.3】将每一个检测点的A扫信号通过所述“温度-波速”曲线转化成“距离-幅值”表示;

【2.4】对“距离-幅值”表示的A扫信号进行升采样;

【3】特征增强与数据成像;

【3.1】采用希尔伯特包络算法对A扫信号进行特征增强;

【3.2】对特征增强后的A扫信号沿一扫查方向进行重组得到B扫图像,所述B扫图像能够识别新成形层任一纵截面的缺陷;

【3.3】取每一个A扫信号的峰值或者有效值,按照扫查位置数据进行重新排布,得到新成形层的C扫图像,所述C扫图像能够直观地识别新成形层内部缺陷的位置、大小以及深度;

【4】缺陷识别与反馈处理。

2.根据权利要求1所述的基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于:所述步骤【2.3】的具体步骤是:

将每个A扫信号的时间轴乘以该信号采集点温度对应的超声波波速,将A扫信号转换为“距离-幅值”表示。

3.根据权利要求1所述的基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于:所述步骤【2.4】的具体步骤是:

设常温T0下采集得到的信号点数为N0,在一温度Tx下通过波速修正得到的信号点数为Nx,则升采样系数k1=N0/Nx,通过升采样处理后,温度Tx下的A扫信号点数也成为N0

4.根据权利要求1所述的基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于:所述步骤【1】的具体步骤是:

【1.1】将超声波信号波形除以超声波信号的强度值,进行归一化处理;

【1.2】采用多项式拟合的方法去除超声波信号的趋势项;

【1.3】采用带通滤波器对超声波信号进行滤波,得到超声表面波或纵波对应的频率范围内的信号。

5.根据权利要求1所述的基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于:所述步骤【4】的具体步骤是:

对B扫图像和C扫图像进行判断:

当新成形层中存在明显可见缺陷且难以修复时,终止增材制造过程并采用减材工艺去除新成形层材料,然后再继续进行增材制造;

当新成形层存在较小缺陷或者熔合不良时,采用重熔方式,修复已有缺陷;

当新成形层中存在微小缺陷时,实时调整增材制造工艺参数,优化新成形层质量;

若新成形层未见缺陷或者缺陷尺寸和数量满足许用值时,继续下一层的增材制造及检测。

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