[发明专利]一种SIM卡热插拔测试装置及系统在审
| 申请号： | 201811571894.4 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109541387A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 葛文韬;邓云 | 申请（专利权）人： | 深圳市泰比特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/04 | 分类号： | G01R31/04 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 胡玉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种SIM卡热插拔测试装置及系统，所述SIM卡热插拔测试装置包括：底座、第一平台、第一平台支架、被测设备固定组件、第二平台、第二平台支架和SIM卡伸缩控制组件，所述第一平台通过所述第一平台支架设置于所述底座上，所述被测设备固定组件设置于所述第一平台靠近所述第二平台的一端，所述第二平台通过所述第二平台支架设置于所述底座上，所述SIM卡伸缩控制组件设置于所述第二平台靠近所述被测设备固定组件的一端。本发明能够实现批量的自弹式SIM卡热插拔测试，并保证了其测试的可靠性；能够判断被测设备是否在SIM卡热插拔测试过程被损坏；能够满足不同尺寸的被测设备的SIM卡热插拔测试，适用范围广。 | ||
| 搜索关键词： | 被测设备 平台支架 热插拔测试装置 热插拔测试 固定组件 底座 伸缩控制组件 自弹式 测试 保证 | ||
【主权项】：
1.一种SIM卡热插拔测试装置，其特征在于，包括：底座、第一平台、第一平台支架、被测设备固定组件、第二平台、第二平台支架和SIM卡伸缩控制组件，所述第一平台通过所述第一平台支架设置于所述底座上，所述被测设备固定组件设置于所述第一平台靠近所述第二平台的一端，所述第二平台通过所述第二平台支架设置于所述底座上，所述SIM卡伸缩控制组件设置于所述第二平台靠近所述被测设备固定组件的一端。
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