[发明专利]一种材料电磁参数测量方法有效
| 申请号： | 201811562646.3 | 申请日： | 2018-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN109782200B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 孟繁博;李冬兵;张沛 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R1/04;G01R35/02 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 | 代理人： | 司立彬 |
| 地址： | 100049 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种材料电磁参数测量方法，其步骤包括：1)对非标测试夹具的非标转接头1和非标转接头2进行T状态、R状态以及L状态下的测试，并将该三种状态下的测试数据导入夹具校准模块中；2)夹具校准模块根据所述测试数据计算出非标转接头1和非标转接头2的S参数；3)将待测样品放入该非标测试夹具进行测试，并将得到的S参数[S]_measure导入夹具校准模块中；4)根据步骤2)得到S参数消除[S]_measure数据中包含非标转接头1和非标转接头2的S参数，得到计算该待测样品的电磁参数所需的核心数据；5)根据核心数据用TR法计算出该待测样品的电磁参数。本发明有效提高材料电磁参数的测试效率与测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 电磁 参数 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种材料电磁参数测量方法，其步骤包括：1)对非标测试夹具的非标转接头1和非标转接头2进行T状态、R状态以及L状态下的测试，并将该三种状态下的测试数据导入夹具校准模块中；其中，T状态为直连状态、R状态为反射状态、L状态为延长线状态；所述非标测试夹具包括用于放置材料样品的样品放置单元，非标转接头1和非标转接头2；样品放置单元位于非标转接头1与非标转接头2之间；2)夹具校准模块根据所述测试数据计算出非标转接头1和非标转接头2的S参数，即[S]_connector1和[S]_connector2；3)将待测样品放入该非标测试夹具进行测试，并将得到的S参数[S]_measure导入夹具校准模块中；4)夹具校准模块根据[S]_connector1、[S]_connector2，消除[S]_measure数据中包含非标转接头1和非标转接头2的S参数信息，得到计算该待测样品的电磁参数所需的核心数据[S]_dut；5)TR法求解模块根据[S]_dut计算出该待测样品的电磁参数。
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