[发明专利]检查发光元件的方法及用于检查发光元件的装置在审
| 申请号： | 201811509662.6 | 申请日： | 2018-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN109900718A | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 朱成培 | 申请（专利权）人： | 三星显示有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;刘铮 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本申请涉及检查发光元件的方法和用于检查发光元件的装置，该方法和装置可确定发光二极管的密度、形状缺陷和对齐状态，该方法包括：准备其上设置有第一电极和第二电极的衬底；将包括多个发光元件的溶液施加至第一电极和第二电极上；向第一电极和第二电极施加第一电压，以使得多个发光元件发光；拍摄从多个发光元件发射的光以生成第一图像数据；以及利用第一图像数据确定多个发光元件的密度和形状缺陷中至少之一。 | ||
| 搜索关键词： | 发光元件 第二电极 第一电极 形状缺陷 检查 图像数据确定 施加 发光二极管 方法和装置 图像数据 对齐 衬底 发光 发射 拍摄 申请 | ||
【主权项】：
1.检查发光元件的方法，所述方法包括：准备衬底，在所述衬底上设置有第一电极和第二电极；将包括多个发光元件的溶液施加至所述第一电极和所述第二电极上；向所述第一电极和所述第二电极施加第一电压，以使得所述多个发光元件发光；拍摄从所述多个发光元件发射的所述光以生成第一图像数据；以及利用所述第一图像数据确定所述多个发光元件的密度和形状缺陷中至少之一。
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