[发明专利]一种电子元器件测试装置

摘要

本发明公开一种电子元器件测试装置，包括底座，所述底座上开设有存储滑槽，所述存储滑槽内安装有电子元器件存储板，所述电子元器件存储板上开设有电子元器件存储凹槽；所述底座上安装有支撑架，所述支撑架上安装有气缸，所述气缸与气缸推杆相连，所述气缸推杆与检测底板相连，所述检测底板上开设有调节滑槽，所述调节滑槽内分别安装有第一滑块、第二滑块、第三滑块，所述第一滑块与第一测针相连，所述第二滑块与第二测针相连，所述第三滑块与第三测针相连。本发明所述的一种电子元器件测试装置，其结构简单，使用方便，能够测试不同型号的咪头电子元器件，且测试准确性高。

主权项

1.一种电子元器件测试装置，其特征在于：包括底座(1)，所述底座(1)上开设有存储滑槽(2)，所述存储滑槽(2)内安装有电子元器件存储板(3)，所述电子元器件存储板(3)上开设有电子元器件存储凹槽(4)；所述底座(1)上安装有支撑架(11)，所述支撑架(11)上安装有气缸(12)，所述气缸(12)与气缸推杆(13)相连，所述气缸推杆(13)与检测底板(14)相连，所述检测底板(14)上开设有调节滑槽(15)，所述调节滑槽(15)内分别安装有第一滑块(21)、第二滑块(22)、第三滑块(23)，所述第一滑块(21)与第一测针(24)相连，所述第二滑块(22)与第二测针(25)相连，所述第三滑块(23)与第三测针(26)相连，所述第一滑块(21)与第二滑块(22)之间的调节滑槽(15)内安装有第一限位块(27)，所述第二滑块(22)与第三滑块(23)之间的调节滑槽(15)内安装有第二限位块(28)，所述第三滑块(23)与第一滑块(21)之间的调节滑槽(15)内安装有第三限位块(29)。