[发明专利]一种电子元器件测试装置在审
申请号: | 201811500123.6 | 申请日: | 2018-12-07 |
公开(公告)号: | CN109358213A | 公开(公告)日: | 2019-02-19 |
发明(设计)人: | 刘丹 | 申请(专利权)人: | 江苏宇极光电科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 221300 江苏省徐州市邳州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元器件 电子元器件测试装置 测针 底座 底板 存储滑槽 第二滑块 第一滑块 气缸推杆 存储板 支撑架 滑槽 滑块 气缸 测试准确性 存储凹槽 检测 咪头 测试 | ||
本发明公开一种电子元器件测试装置,包括底座,所述底座上开设有存储滑槽,所述存储滑槽内安装有电子元器件存储板,所述电子元器件存储板上开设有电子元器件存储凹槽;所述底座上安装有支撑架,所述支撑架上安装有气缸,所述气缸与气缸推杆相连,所述气缸推杆与检测底板相连,所述检测底板上开设有调节滑槽,所述调节滑槽内分别安装有第一滑块、第二滑块、第三滑块,所述第一滑块与第一测针相连,所述第二滑块与第二测针相连,所述第三滑块与第三测针相连。本发明所述的一种电子元器件测试装置,其结构简单,使用方便,能够测试不同型号的咪头电子元器件,且测试准确性高。
技术领域
本发明涉及一种电子元器件测试装置,属于电子元器件生产设备的技术领域。
背景技术
电子元器件咪头只要用作传声器件,广泛用于电子产品中,咪头呈圆柱形,引脚在一侧的端面上,引脚为两个,性能测试时,探针接触两个引脚即可。现有对于电子元器件咪头的测试时有通过人工测试,人工测试存在效率低。也有通过测试设备对于电子元器件咪头进行测试,但由于不同的咪头其大小不同,要求探针之间的距离也不同。现有的测试设备其探针的距离固定,因此针对不同大小的咪头需要不同探针距离的设备进行测试,从而提高测试成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电子元器件测试装置,其结构简单,使用方便,能够测试不同型号的咪头电子元器件,且测试准确性高。
为了达到上述目的,本发明的技术方案是:
一种电子元器件测试装置,包括底座,所述底座上开设有存储滑槽,所述存储滑槽内安装有电子元器件存储板,所述电子元器件存储板上开设有电子元器件存储凹槽;所述底座上安装有支撑架,所述支撑架上安装有气缸,所述气缸与气缸推杆相连,所述气缸推杆与检测底板相连,所述检测底板上开设有调节滑槽,所述调节滑槽内分别安装有第一滑块、第二滑块、第三滑块,所述第一滑块与第一测针相连,所述第二滑块与第二测针相连,所述第三滑块与第三测针相连,所述第一滑块与第二滑块之间的调节滑槽内安装有第一限位块,所述第二滑块与第三滑块之间的调节滑槽内安装有第二限位块,所述第三滑块与第一滑块之间的调节滑槽内安装有第三限位块。
所述支撑架下端安装有红外线计算器。
所述电子元器件存储凹槽内安装有缓冲垫。
所述支撑架上端安装有LED灯。
本发明的有益效果是:一种电子元器件测试装置,其结构简单,使用方便,能够测试不同型号的咪头电子元器件,且测试准确性高。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为检测底板的结构示意图。
具体实施方式
实施例1
如图1、图2所示一种电子元器件测试装置,包括底座1,所述底座1上开设有存储滑槽2,所述存储滑槽2内安装有电子元器件存储板3,所述电子元器件存储板3上开设有电子元器件存储凹槽4;所述底座1上安装有支撑架11,所述支撑架11上安装有气缸12,所述气缸12与气缸推杆13相连,所述气缸推杆13与检测底板14相连,所述检测底板14上开设有调节滑槽15,所述调节滑槽15内分别安装有第一滑块21、第二滑块22、第三滑块23,所述第一滑块21与第一测针24相连,所述第二滑块22与第二测针25相连,所述第三滑块23与第三测针26相连,所述第一滑块21与第二滑块22之间的调节滑槽15内安装有第一限位块27,所述第二滑块22与第三滑块23之间的调节滑槽15内安装有第二限位块28,所述第三滑块23与第一滑块21之间的调节滑槽15内安装有第三限位块29。
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