[发明专利]采用激光器自定义环境特征的交叉式分区建图与质量评估方法有效

专利信息
申请号: 201811440091.5 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN109360255B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 孙雷;林万彪;蒋正宏;刘景泰 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: G06T11/20 分类号: G06T11/20;G06Q10/06
代理公司: 天津耀达律师事务所 12223 代理人: 侯力
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种采用激光器自定义环境特征的交叉式分区建图与质量评估方法。本发明方法以相邻覆盖方式对目标建图场地进行交叉式分区;通过自定义一种或多种环境特征,充分利用高反光物体、墙壁直线、货架腿等稳定环境自身特征作为地图标识物,通过自定义质量评估函数对环境特征质量进行评估,保障地图质量。本发明方法可降低部署难度和成本,降低对场地稳定安装位置的要求。同时解决了激光扫描特征值质量不够高、致使定位不准确的问题,以及传统激光扫描区域边缘特征稀疏无法扫描到足够的特征而定位失败的问题。
搜索关键词: 采用 激光器 自定义 环境 特征 交叉 分区 质量 评估 方法
【主权项】:
1.一种采用激光器自定义环境特征的交叉式分区建图与质量评估方法,其特征在于该方法包含以下步骤:步骤一,以相邻覆盖方式对目标建图场地进行交叉式分区;⑴根据目标建图场地大小建立一个横向长M米,纵向宽N米的长方形全图区域,建立以长方形全图区域一角为原点,横向为X轴,纵向为Y轴的坐标系;⑵从原点开始沿X轴扫描,完成一个半径为R米的圆形区域扫描后,沿X轴平移R米运动至圆形区域的边上,其中R<M,在传感器离开圆形前启动下一次区域扫描,如此循环直至到达步骤一(1)建立的长方形全图区域的边界完成一行的分区覆盖;⑶沿Y轴移动R米到达上一行最后一个圆形的边缘启动下一次区域扫描,然后重新沿X轴反方向重复步骤一(2)中的过程,继续新一行的分区扫描;⑷循环步骤一中(2)和(3)的过程直至完整覆盖整个长方形全图区域;步骤二,自定义环境特征建图与质量评估;通过自定义一种或多种环境特征,充分利用高反光物体、墙壁直线和货架腿的稳定环境自身特征作为地图标识物,通过自定义质量评估函数对环境特征质量进行评估,保障地图质量;具体过程如下:⑴自定义一种或多种环境特征模型及其质量评估函数;⑵导入环境特征模型与评估函数,扫描场地分区并建立环境特征地图;⑶计算分区环境特征质量评估值;⑷对比预设环境特征质量阈值,判断是否合格;⑸统计所有分区合格数量和合格率,作为全地图质量评估值。
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