[发明专利]检查有机发光二极管面板时的除水分装置在审

专利信息
申请号: 201811434962.2 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN109839435A 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 金庚秀;都贤玽;李东柱;李相恩;李在镐;李章圭 申请(专利权)人: DE&T株式会社
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/32
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金鲜英;张敬强
地址: 韩国忠*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及当利用超声波非破坏检查方式来检查有机发光二极管面板的气泡时,通过去除检查区域的水分来防止有机发光二极管面板受到水分的影响的检查有机发光二极管面板时的除水分装置,上述检查有机发光二极管面板时的除水分装置包括:工作台,用于收容检查对象;供水部,用于向蒸镀有玻璃的检查对象的上部供水;气泡检测部,向流着水的上述检查对象的上部发射超声波,将因检查对象的密度差而反射的信号作为气泡检测信号来输出;以及防水分流入部,当利用上述气泡检测部检测气泡时,用于防止水分流入上述检查对象。
搜索关键词: 有机发光二极管面板 检查对象 除水分装置 气泡检测 超声波 检查 非破坏检查 检查区域 工作台 供水部 密度差 蒸镀 反射 去除 防水 收容 玻璃 发射 供水 输出 检测
【主权项】:
1.一种检查有机发光二极管面板时的除水分装置,当以非破坏性检查方式检测显示面板的气泡时,用于防止水分流入显示面板,其特征在于,包括:工作台,用于收容检查对象;供水部,用于向蒸镀有玻璃的检查对象的上部供水;气泡检测部,向流着水的上述检查对象的上部发射超声波,将因检查对象的密度差而反射的信号作为气泡检测信号来输出;以及防水分流入部,当利用上述气泡检测部检测气泡时,用于防止水分流入上述检查对象。
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