[发明专利]电子元器件测试方法、装置、系统和存储介质在审
| 申请号： | 201811416586.4 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN109596914A | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 赖灿雄;肖庆中;恩云飞;黄云;尧彬;路国光 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 冯右明 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种电子元器件测试方法、装置、系统和存储介质。所述方法包括：在预设周期到来时，向信号采集设备发送同步信号，并接收信号采集设备基于同步信号反馈的各光信号；预设周期为用于传输给待测电子元器件的脉冲信号的脉冲周期；同步信号用于指示信号采集设备在相应的预设采集时长内、对待测电子元器件进行光信号采集；对各光信号进行叠加处理，并依据叠加的结果定位待测电子元器件的静电放电通道，因此，本申请电子元器件测试方法能够准确地采集待测电子元器件的光信号，避免了噪声过大而导致的难于分辨有效光信号的问题，通过准确采集的光信号实现待测电子元器件的静电放电通道的精确定位，以为改善电子元器件的设计提供测试基础。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 同步信号 测试 信号采集设备 存储介质 静电放电 预设周期 采集 光信号采集 采集设备 叠加处理 脉冲信号 脉冲周期 指示信号 有效光 申请 时长 预设 叠加 分辨 噪声 发送 传输 反馈 | ||
【主权项】：
1.一种电子元器件测试方法，其特征在于，包括以下步骤：在预设周期到来时，向信号采集设备发送同步信号，并接收所述信号采集设备基于所述同步信号反馈的各光信号；所述预设周期为用于传输给待测电子元器件的脉冲信号的脉冲周期；所述同步信号用于指示所述信号采集设备在相应的预设采集时长内、对所述待测电子元器件进行光信号采集；对各所述光信号进行叠加处理，并依据所述叠加的结果定位所述待测电子元器件的静电放电通道。
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