[发明专利]一种二维缩比快速恒虚警检测方法有效
| 申请号： | 201811344417.4 | 申请日： | 2018-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN109856604B | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 赵晗希;王志诚;余渝生;王伟;沈謇;陈文彤 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;G01S7/41 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张静洁;徐雯琼 |
| 地址： | 200090 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种二维缩比快速恒虚警检测方法，对假定的雷达二维检测平面进行等比例分块，得到多个子块，计算雷达二维检测平面各个子块的点数均值，计算雷达二维检测平面的二维恒虚警检测门限，利用二维恒虚警检测门限对雷达二维检测平面的各个子块进行遍历筛选，得到点数均值大于门限的子块记为有目标子块，计算有目标子块的二维恒虚警检测门限；利用有目标子块的二维恒虚警检测门限对有目标子块进行遍历筛选，得到大于门限的点记为目标，并获得目标位置。本发明既能在不同杂波背景中保持较好的检测性能，又能大大减少检测时间，实现了雷达大空域范围快速搜索目标的同时提高了工程实现的可能性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 二维 快速 恒虚警 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种二维缩比快速恒虚警检测方法，其特征在于，包含以下步骤：S1、对假定的雷达二维检测平面进行等比例分块，得到多个子块；S2、计算雷达二维检测平面各个子块的点数均值；S3、计算雷达二维检测平面的二维恒虚警检测门限；S4、利用二维恒虚警检测门限对雷达二维检测平面的各个子块进行遍历筛选，得到点数均值大于门限的子块记为有目标子块；S5、计算有目标子块的二维恒虚警检测门限；S6、利用有目标子块的二维恒虚警检测门限对有目标子块进行遍历筛选，得到大于门限的点记为目标，并获得目标位置。
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