[发明专利]一种芯片产品测试规范的制定方法及系统有效
| 申请号： | 201811316958.6 | 申请日： | 2018-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN109471015B | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 张晓晶;陈岚 | 申请（专利权）人： | 佛山中科芯蔚科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 528200 广东省佛山市南海区桂城*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片产品测试规范的制定方法，包括：获取目标产品包含的各个待测试分产品；解析每一个待测试分产品包含的各个测试参数，确定与每一个测试参数对应的初始极值和偏移量极值；依据所述初始极值和所述偏移量极值，确定每一个测试参数的测试标准极值；将各个测试标准极值分配给对应的待测试分产品，完成所述目标产品测试规范的制定。上述的制定方法，集中确定各个待测试分产品的测试标准极值，将各个测试标准极值分配给对应的待测试分产品，完成所述目标产品测试规范的制定，一个芯片产品只对应一个测试规范，避免了需要为每一个分产品制定测试规范，一个芯片产品对应多个测试规范，导致数据处理工作量大的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 产品 测试 规范 制定 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种芯片产品测试规范的制定方法，其特征在于，包括：获取目标产品包含的各个待测试分产品；解析每一个待测试分产品包含的各个测试参数，确定与每一个测试参数对应的初始极值和偏移量极值；依据所述初始极值和所述偏移量极值，确定每一个测试参数的测试标准极值；将各个测试标准极值分配给对应的待测试分产品，完成所述目标产品测试规范的制定。
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