[发明专利]一种单隔离层磁隧道结刻蚀方法在审

专利信息
申请号: 201811298691.2 申请日: 2018-11-02
公开(公告)号: CN111146336A 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 胡冬冬;王珏斌;蒋中原;刘自明;车东晨;崔虎山;陈璐;任慧群;孙宏月;许开东 申请(专利权)人: 江苏鲁汶仪器有限公司
主分类号: H01L43/12 分类号: H01L43/12;H01L43/08
代理公司: 北京得信知识产权代理有限公司 11511 代理人: 孟海娟;袁建水
地址: 221300 江苏省徐州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种单隔离层磁隧道结刻蚀方法,所使用的刻蚀装置包括样品装载腔室、真空过渡腔室、反应离子刻蚀腔室、离子束刻蚀腔室、镀膜腔室以及真空传输腔室,在不中断真空的情况下,在反应离子刻蚀腔室、离子束刻蚀腔室、镀膜腔室依照特定的步骤对晶圆进行加工、处理。本发明能够有效改善高密度小器件生产过程中受掩蔽效应的影响。另外,离子束刻蚀腔室和反应离子刻蚀腔室结合使用,大幅度降低了磁性隧道结膜层结构的金属沾污及损伤,极大的提高了器件的性能和可靠性,并且克服了现有的单一刻蚀方法存在的技术问题,提高了生产效率和刻蚀工艺精度。
搜索关键词: 一种 隔离 隧道 刻蚀 方法
【主权项】:
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