[发明专利]一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法及装置有效
| 申请号： | 201811293504.1 | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN109583029B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 武宁 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F17/15;G06F17/18;G06F113/18 |
| 代理公司： | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人： | 王汝银 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明为了解决现有技术中时钟信号测试受ledge影响边沿斜率值的问题，提出一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，通过采用此方法，可通过沿用现有的量测波形方案，在芯片封装外围采集波形，并对量测波形进行求取一阶导数并对一阶导数求取平均值，得到斜率波形后经过加法运算，以此计算出等效于芯片封装Die终端上的信号边沿斜率值，本发明还提出一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的装置，消除信号反射带来的测量信号波形边沿产生的Ledge对量测数据准确度的影响，提高了时钟信号测试数据的精度，准确地判断评估研发设计的信号质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 消除 ledge 影响 信号 边沿 斜率 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种消除受Ledge影响信号边沿斜率值的方法，其特征是，包括：对采集的信号的时钟波形求取一阶导数并对一阶导数求取平均值，得到信号的时钟波形的斜率波形；选取信号时钟波形的斜率波形的两个波峰值或两个波谷值相加，得到的数值之和即为等效芯片接收端的信号边沿斜率数值。
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