[发明专利]一种用于电力设备光热老化联合试验装置有效
申请号: | 201811271196.2 | 申请日: | 2018-10-29 |
公开(公告)号: | CN109116162B | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 田军明;刘潇;詹红生;李胜;马玉珠;方堃;吴猛;陈勇慎;赵霞;孙云川;王伟;张清涛 | 申请(专利权)人: | 云南电网有限责任公司西双版纳供电局 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01N17/00 |
代理公司: | 成都领航高智知识产权代理有限公司 51285 | 代理人: | 王斌 |
地址: | 666100 云南省西*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 目前针对电力设备的老化模拟试验主要是电老化或热老化,未有针对光热老化的试验装置,但实际运行中,多数电力设备处于户外日照环境,受可见光和紫外线影响,电力设备的老化比简单的电热老化更加迅速。本发明公开了一种用于电力设备光热老化联合试验装置,包括试验信号发生源、光热老化装置、电流传感器、电压传感器和微处理器,所述光热老化装置通过第一凹面聚光器的设置,使得该设备可以聚集自然光对设备进行老化测试,节约能源;该装置通过透明箱体对待测设备进行隔离,并通过紫外线灯设置,可以使得该装置能够加热和聚光测试同时开启,也可单独开启测定,紫外线光和可见光可自由调换。本专利提出的方案一定程度填补技术空缺。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 电力设备 光热 老化 联合 试验装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于电力设备光热老化联合试验装置,其特征在于;包括试验信号发生源、光热老化装置、电流传感器、电压传感器、采集系统和微处理器,所述微处理器与试验信号发生源、光热老化装置、电流传感器、电压传感器、采集系统之间数据信号连接;所述光热老化装置的底座(1)顶部通过螺丝固定有第一支撑柱(2),所述第一支撑柱(2)的顶部焊接有设备支撑板(3),所述底座(1)的顶部左侧通过螺丝固定有第二支撑柱(5),所述第二支撑柱(5)的顶部铰接于第一凹面聚光器(8)的外侧,所述第二支撑柱(5)的外侧焊接有第一横梁(6),所述第一横梁(6)的顶部铰接于伸缩杆(7)的一侧,所述伸缩杆(7)的另一侧铰接于第一凹面聚光器(8)的顶部,所述底座(1)的顶部右侧通过螺丝固定有第三支撑柱(9),所述第三支撑柱(9)的外侧滑动套接有第一滑套(10),所述第一滑套(10)的外侧焊接有第三横梁(12),所述第三横梁(12)的一侧固定于第二凹面聚光器(13)的外侧,所述第二凹面聚光器(13)的外侧均匀贯穿有灯罩(14),所述灯罩(14)的一侧贯穿有螺纹杆(15),所述螺纹杆(15)的外侧螺纹连接有紧固螺母(18),所述螺纹杆(15)的另一侧插入灯罩(14)内并焊接固定于限位块(16)的一侧,所述限位块(16)的一侧设有套接在螺纹杆(15)外侧的弹簧(17),所述限位块(16)的另一侧安装有紫外线灯(19),所述第三支撑柱(9)的顶部焊接有第二横梁(11),所述第二横梁(11)的一侧焊接有第二滑套(22),所述第二滑套(22)滑动套接于活动柱体(23)的外侧,所述活动柱体(23)的底部预埋固定于透明箱体(24)的顶部。
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