[发明专利]光谱测量装置

摘要

本发明公开光谱测量装置(1)，用于过程自动化系统的测量点，包括：宽带光源(2)，其用于通过入口光圈(7)将光辐射到待测量的样品(9)上，其中光的光束形成照射平面(x‑y)；限光器(5)，其将光限制为与所述照射平面(x‑y)成一定角度，特别是90°，由此在该角度下产生不同量的光；色散元件(4)，其用于根据光的波长分离光；和检测器(3)，其用于接收根据光的波长分离的光，其中所述光源(2)将光发送通过样品(9)射向所述入口孔(7)、限光器(5)和色散元件(4)，并且光照射到所述检测器(3)，其中所述检测器(3)被设计为二维检测器并且被定向成使得能够以所述角度，即，特别是90°接收光。

主权项

1.一种用于过程自动化系统的测量点的光谱测量装置(1)，所述光谱测量装置(1)包括：‑宽带光源(2)，所述宽带光源(2)用于通过入口狭缝光圈(7)将光辐射到待测的样品(9)，其中所述光的光束形成照射平面(x‑y)；‑限光器(5)，所述限光器(5)将所述光限制为与所述照射平面(x‑y)成一定角度，特别是90°，由此在该角度下产生不同量的光；‑色散元件(4)，所述色散元件(4)用于根据光的波长分离光；和‑检测器(3)，所述检测器(3)用于接收根据光的波长分离的光，其中所述光源(2)将所述光通过所述样品(9)辐射到所述入口光圈(7)、所述限光器(5)和所述色散元件(4)，并且所述光照射到所述检测器(3)，其中所述检测器(3)被设计为二维检测器，并且被定向成使得在所述角度下，即特别是90°时，能够接收光。