[发明专利]一种用于氧传感器基片的测试系统及其使用方法有效
| 申请号： | 201811219374.7 | 申请日： | 2018-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN109470892B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 马安新;马思祺;李雪亮;孟澍新;王春宇 | 申请（专利权）人： | 马安新 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01M15/10 |
| 代理公司： | 北京巨弘知识产权代理事务所(普通合伙) 11673 | 代理人： | 陈芹利 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于氧传感器基片的测试系统及其使用方法，测试系统包括测试设备和测试控制面板，测试控制面板用于显示基片性能测试数据，测试设备包括架体、设置于架体上的用于测试基片性能的测试分类装置、设置于测设分类装置上方用于移动基片到指定位置的抓取控制装置和设置于测设分类装置上方用于提供测试气氛的气源控制装置。本发明提供的测试系统采用高精度专用万用表和高精度模拟量采集板卡进行电信号的测量，能够实现自动测量基片的基本性能参数并判断数据是否合格，测试结果重复性高，提高了基片性能测试的效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 传感器 测试 系统 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于氧传感器基片的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括测试设备(1)和测试控制面板(2)，所述测试控制面板(2)用于显示和处理基片性能测试数据，所述测试设备(1)包括架体(11)、固定设置于所述架体(11)中部的用于测试基片性能的测试分类装置(12)、设置于所述测试分类装置(12)上方用于移动所述基片到指定位置的抓取控制装置(13)和设置于所述测试分类装置(12)下方用于提供测试气氛的气源控制装置(14)。
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