[发明专利]位移监测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201811181230.7 申请日: 2018-10-10
公开(公告)号: CN109116368A 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 郑文;韩晓东 申请(专利权)人: 福建汇川物联网技术科技股份有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01B11/03
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 吴开磊
地址: 350000 福建省福州市鼓楼区乌山西*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 本申请实施例提供了一种位移监测系统及方法,涉及位移监测设备技术领域。系统包括:凹面反射台,凹面反射台设置在位移监测点处。测距装置,测距装置设置在测量点处,测距装置用于获得凹面反射台上至少四个测距点距测量点的至少四个位置参数,根据至少四个位置参数确定出位移监测点当前位于的第一位置,以及根据第一位置和根据测距装置历史测得的位移监测点历史位于的第二位置确定位移监测点的位移是否异常,其中,至少四个测距点至少部分不共面。那么利用第一位置和第二位置确定的绝对位移来判断该位移监测点的位移是否异常就可以得到更加准确的结果,解决了现有技术中由于测得的位移误差较大导致结果不准确的技术问题。
搜索关键词: 位移监测 测距装置 凹面反射 第一位置 测距 位移监测系统 第二位置 测量点 位移监测设备 位置参数确定 绝对位移 位移误差 位置参数 不共面 点距 申请
【主权项】:
1.一种位移监测系统,其特征在于,所述位移监测系统包括:凹面反射台,所述凹面反射台设置在位移监测点处;测距装置,所述测距装置设置在测量点处,测距装置用于获得所述凹面反射台上至少四个测距点距所述测量点的至少四个位置参数,根据所述至少四个位置参数确定出所述位移监测点当前位于的第一位置,以及根据所述第一位置和根据所述测距装置历史测得的所述位移监测点历史位于的第二位置确定所述位移监测点的位移是否异常,其中,所述至少四个测距点至少部分不共面。
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