[发明专利]一种适用于专用集成电路调试的接口装置及工作方法

摘要

本发明公开的一种适用于专用集成电路调试的接口装置及工作方法，属于专用集成电路领域。本发明装置包括调试指令输入部分、数据缓存部分、控制部分、调试串口输出部分和调试总线输出部分。本发明方法为：调试指令输入部分以字节形式进行输入，控制部分将输入的字节组合成调试指令传给数据缓存部分，数据缓存部分选择对应的寄存器值或数据总线值进行缓存，将其输出到调试串口输出部分或者调试总线输出部分，调试串口输出部分或调制总线输出部分将调试数据输出至ASIC IO上，完成调试指令所指示的数据输出。本发明能够简单有效地完成对专用集成电路调试，流片后能够获取ASIC内部特定的寄存器值或特定数据总线值，又尽可能少地占用逻辑资源和输入输出资源。

主权项

1.一种适用于专用集成电路调试的接口装置，其特征在于：包括调试指令输入部分、数据缓存部分、控制部分、调试串口输出部分和调试总线输出部分；所述调试指令输入部分用于接收调试指令字节，包括异步串口输入线，通过异步串口输入线实现调试指令字节输入；所述数据缓存部分用于对所需调试寄存器值或数据总线值进行缓存；数据缓存部分包括总状态数量为A+B的状态机、D比特缓存寄存器M、E比特缓存寄存器N，其中：A是所需调试寄存器数量，B是所需调试数据总线数量，D是满足D>C且D＝8*n的最小正整数，C为所需调试寄存器最大位宽，n为正整数，E是所需调试数据总线最大位宽；所述控制部分用于组合调试指令字节，并将组合好的调试指令传给数据缓存部分对相应数据进行缓存，控制调试串口输出部分输出所需调试寄存器值，控制调试总线输出部分输出所需调试数据总线值；根据A+B确定每个调试指令所需的字节数F，F为满足2(8*F)≥(A+B)的最小正整数；F个字节按照先低位后高位的顺序组合成调试指令P；控制部分完成调试指令字节的组合，并将其传给数据缓存部分的状态机，状态机根据调试指令的值切换状态，选择相应的寄存器值或者数据总线值缓存至寄存器M或者N中；当P≤A时，将缓存寄存器M中的值分为n次传送给调试串口输出部分对所需调试寄存器值进行输出，其中n＝D/8；当P>A时，将缓存寄存器N中的值传送给调试总线输出部分对所需调试数据总线值进行输出；所述调试串口输出部分用于输出所需调试寄存器值，包括异步串口输出线，通过串口输出线输出所需调试寄存器值；所述调试总线输出部分用于输出所需调试数据总线值；通过阻塞赋值将寄存器N的值输出至ASIC IO上，实现所需调试数据总线值的输出。