[发明专利]一种反光工件点云的处理方法有效
| 申请号： | 201811151979.7 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109389672B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 高健;陈华臻 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G06T17/00 | 分类号： | G06T17/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 510006 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明提供一种反光工件点云的处理方法。一种反光工件点云的处理方法，其中，包括如下步骤：S1.将输入点云 |
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| 搜索关键词： | 一种 反光 工件 处理 方法 | ||
【主权项】：
1.一种反光工件点云的处理方法，其特征在于，包括如下步骤：S1.将输入点云![]()
进行最近邻重采样成m份子集；S2.利用高斯加权局部最优投影算子(SWLOP)，对每个子集进行点云去噪、除外点和均匀分布；S3.对每个经SWLOP算子处理后的子集(x1,x2,x3L xn)进行迭代t次，直至处理后的点云达到后续处理的需求，然后将个子集重新合并为新的子集；S4.多个子集(x1,x2,x3L xn)合并为一个点集![]()
对合并后点云进行边缘感知重采样(edge‑aware resampling，EAR)增采样。
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